公开(公告)号：CN102970132A

公开(公告)日：2013-03-13

申请号：CN201110257273.0

申请日：2011-08-31

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 王连成 ,  袁永锋

IPC: H04L9/06 ,  H04L9/08

Abstract: 本发明提出了一种可以抵御通过功耗分析(简单功耗分析SPA和差分功耗分析DPA)或电磁辐射分析(DEMA)技术对分组算法模块、芯片和智能卡卡片等进行攻击以获取加解密运算密钥的技术。在有安全要求的各种应用领域中，例如但不限于，电子身份证、金融卡、社保卡等应用领域中，本发明能够地保护分组算法模块、芯片和智能卡卡片等的加解密运算密钥不被功耗分析或电磁辐射分析技术所破译获取，从而提高了对分组算法模块、芯片和智能卡卡片等的安全防护强度。本发明具有很好的创新性、实用性和有效性。

公开(公告)号：CN102970132B

公开(公告)日：2015-02-18

申请号：CN201110257273.0

申请日：2011-08-31

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 王连成 ,  袁永锋

IPC: H04L9/06 ,  H04L9/08

Abstract: 本发明提出了一种可以抵御通过功耗分析(简单功耗分析SPA和差分功耗分析DPA)或电磁辐射分析(DEMA)技术对分组算法模块、芯片和智能卡卡片等进行攻击以获取加解密运算密钥的技术。在有安全要求的各种应用领域中，例如但不限于，电子身份证、金融卡、社保卡等应用领域中，本发明能够地保护分组算法模块、芯片和智能卡卡片等的加解密运算密钥不被功耗分析或电磁辐射分析技术所破译获取，从而提高了对分组算法模块、芯片和智能卡卡片等的安全防护强度。本发明具有很好的创新性、实用性和有效性。

公开(公告)号：CN103530575A

公开(公告)日：2014-01-22

申请号：CN201210236252.5

申请日：2012-07-04

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 王连成 ,  苏杨 ,  陈波涛

IPC: G06F21/70

CPC classification number: G06F21/86

Abstract: 本发明提出一种抵御非法进入芯片测试模式的防护方法。在对进入芯片测试模式有安全要求的各种安全芯片中，如电子身份证、金融卡、社保卡、公交卡芯片等，本发明可以保护芯片的测试模式不被非法侵入，从而提高对芯片内部资源的安全保护强度。