公开(公告)号：CN103675577B

公开(公告)日：2016-12-21

申请号：CN201210351429.6

申请日：2012-09-18

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 马哲 ,  宁作良 ,  张诗娟

IPC: G01R31/02

Abstract: 在集成电路的上电过程中，经常会出现外部信号先于电源上电的情况。当该情况发生时，外部信号会通过I/O电路的ESD PMOS及驱动PMOS管向集成电路电源端口反向漏电，代替外部电源为集成电路供电。这种反向漏电容易影响集成电路正常工作。本发明提供了一种对I/O反向漏电进行检测的方法，通过对I/O端口电压和电源端口电压的比较，可以判断集成电路供电是源于I/O端口还是电源端口。当检测到I/O端口供电、反向漏电发生时，检测电路将复位集成电路，从而避免集成电路在非正常状态下工作。

公开(公告)号：CN103675577A

公开(公告)日：2014-03-26

申请号：CN201210351429.6

申请日：2012-09-18

Applicant: 北京中电华大电子设计有限责任公司

Inventor： 马哲 ,  宁作良 ,  张诗娟

IPC: G01R31/02

Abstract: 在集成电路的上电过程中，经常会出现外部信号先于电源上电的情况。当该情况发生时，外部信号会通过I/O电路的ESD PMOS及驱动PMOS管向集成电路电源端口反向漏电，代替外部电源为集成电路供电。这种反向漏电容易影响集成电路正常工作。本发明提供了一种对I/O反向漏电进行检测的方法，通过对I/O端口电压和电源端口电压的比较，可以判断集成电路供电是源于I/O端口还是电源端口。当检测到I/O端口供电、反向漏电发生时，检测电路将复位集成电路，从而避免集成电路在非正常状态下工作。