测量装置以及测量方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106017521B

    公开(公告)日:2019-06-04

    申请号:CN201610024026.9

    申请日:2016-01-14

    Inventor: 小泉健吾

    Abstract: 本发明涉及测量装置以及测量方法,上述测量装置具备:光源部,生成探测光;分支部,将由上述探测光产生的后方布里渊散射光分支为在第一光路和第二光路传播的第一光和第二光;延迟部,对上述第一光和第二光的任一方的光赋予延迟;合波部,将上述第一光和第二光合波来生成合波光;相干检波部,对上述合波光进行零差检波并将其检波到的差频作为相位差信号输出。根据本发明,当使用后布里渊散射光进行光纤的失真测量时,通过测量光的频率变化作为由相干检波所提供的差拍信号的相位差,由此取得时间和相位的2维信息。

    测量装置以及测量方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106017521A

    公开(公告)日:2016-10-12

    申请号:CN201610024026.9

    申请日:2016-01-14

    Inventor: 小泉健吾

    Abstract: 本发明涉及测量装置以及测量方法,上述测量装置具备:光源部,生成探测光;分支部,将由上述探测光产生的后方布里渊散射光分支为在第一光路和第二光路传播的第一光和第二光;延迟部,对上述第一光和第二光的任一方的光赋予延迟;合波部,将上述第一光和第二光合波来生成合波光;相干检波部,对上述合波光进行零差检波并将其检波到的差频作为相位差信号输出。根据本发明,当使用后布里渊散射光进行光纤的失真测量时,通过测量光的频率变化作为由相干检波所提供的差拍信号的相位差,由此取得时间和相位的2维信息。

    光纤应变和温度测定装置以及光纤应变和温度测定方法

    公开(公告)号:CN109556754B

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201810795056.9

    申请日:2018-07-19

    Abstract: 光纤应变和温度测定装置以及光纤应变和温度测定方法,使用自延迟型的零差干涉计来分离取得应变和温度。具有光源部、分支部、干涉信号取得部、散射光强度取得部以及信号处理部。光源部生成探测光。分支部对通过探测光而在作为测定对象的光纤中产生的后向布里渊散射光进行二分支。干涉信号取得部被输入由分支部二分支出的一个散射光,通过自延迟型的零差干涉而生成干涉信号。散射光强度取得部被输入由分支部二分支出的另一个散射光,取得散射光的强度。信号处理部根据频移量和散射光的强度来分离取得应变(δε)和温度变化(δT),频移量是根据干涉信号的强度而取得的。这里,在干涉信号取得部中,能够使二分支出的一个散射光的相位发生变化。

    光纤应变和温度测定装置以及光纤应变和温度测定方法

    公开(公告)号:CN109556754A

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201810795056.9

    申请日:2018-07-19

    Abstract: 光纤应变和温度测定装置以及光纤应变和温度测定方法,使用自延迟型的零差干涉计来分离取得应变和温度。具有光源部、分支部、干涉信号取得部、散射光强度取得部以及信号处理部。光源部生成探测光。分支部对通过探测光而在作为测定对象的光纤中产生的后向布里渊散射光进行二分支。干涉信号取得部被输入由分支部二分支出的一个散射光,通过自延迟型的零差干涉而生成干涉信号。散射光强度取得部被输入由分支部二分支出的另一个散射光,取得散射光的强度。信号处理部根据频移量和散射光的强度来分离取得应变(δε)和温度变化(δT),频移量是根据干涉信号的强度而取得的。这里,在干涉信号取得部中,能够使二分支出的一个散射光的相位发生变化。

Patent Agency Ranking