一种静电悬浮加速度计在轨光压测量仿真系统

    公开(公告)号:CN114942602B

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202210627389.7

    申请日:2022-06-02

    IPC分类号: G05B17/02 G01P21/00

    摘要: 本申请涉及数据仿真技术领域,具体而言,涉及一种静电悬浮加速度计在轨光压测量仿真系统,包括外部信号模块、系统仿真修正模块以及地面处理模块,其中:外部信号模块与系统仿真修正模块连接,系统仿真修正模块与地面处理模块连接;外部信号模块用于采集数据信号,并将数据信号传输至系统仿真修正模块,系统仿真修正模块用于对数据信号进行融合修正,得到在轨测量仿真数据,并传输给地面处理模块,地面处理模块对在轨测量仿真数据进行综合处理,得到有效测量数据信号。本申请实现了静电悬浮加速度计在轨应用的仿真研究,对静电悬浮加速度计设计、研制及在轨性能评价提供地面模拟的系

    一种惯性测量设备的检验质量控制仿真方法及装置

    公开(公告)号:CN117213526A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311006330.7

    申请日:2023-08-10

    IPC分类号: G01C25/00 G05B17/02

    摘要: 本申请涉及一种惯性测量设备的检验质量控制仿真方法及装置。其中,所述方法包括:建立惯性测量设备的检验质量模型和电极板模型;根据所述检验质量模型和所述电极板模型,检测所述惯性测量设备的电容差值;将所述电容差值进行处理换算,确定所述惯性测量设备的作用力;将所述作用力施加到所述检验质量模型上,实现所述惯性测量设备的控制仿真。本申请实施例可以快速验证静电悬浮加速度计等高精度惯性测量设备的在轨控制方法和控制参数,减少采用落塔等方式进行的验证,提高设备研制效率。

    一种X型承力支架
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115944190A

    公开(公告)日:2023-04-11

    申请号:CN202211238754.1

    申请日:2022-10-10

    IPC分类号: A47F5/00

    摘要: 本申请涉及机械技术领域,具体而言,涉及一种X型承力支架,包括上杆、下杆、第一连杆、第二连杆以及保护套,其中:上杆和下杆均为凹槽型结构;第一连杆和第二连杆中心交叉放置,形成X形状;保护套设置在中心交叉的位置;第一连杆、第二连杆以及保护套在中心交叉处通过螺钉连接在一起。本申请能够承受较大的压力,X型支架的交点处由保护套构成了抗变形的结构,上、下杆加强了抗变形、受力均匀的效果,可实现层间、板间大载重工况下减重、节约空间的安装效果。

    一种静电悬浮加速度计在轨光压测量仿真系统

    公开(公告)号:CN114942602A

    公开(公告)日:2022-08-26

    申请号:CN202210627389.7

    申请日:2022-06-02

    IPC分类号: G05B17/02 G01P21/00

    摘要: 本申请涉及数据仿真技术领域,具体而言,涉及一种静电悬浮加速度计在轨光压测量仿真系统,包括外部信号模块、系统仿真修正模块以及地面处理模块,其中:外部信号模块与系统仿真修正模块连接,系统仿真修正模块与地面处理模块连接;外部信号模块用于采集数据信号,并将数据信号传输至系统仿真修正模块,系统仿真修正模块用于对数据信号进行融合修正,得到在轨测量仿真数据,并传输给地面处理模块,地面处理模块对在轨测量仿真数据进行综合处理,得到有效测量数据信号。本申请实现了静电悬浮加速度计在轨应用的仿真研究,对静电悬浮加速度计设计、研制及在轨性能评价提供地面模拟的系统方法。

    一种月表尘埃测量用激光散射室
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117191712A

    公开(公告)日:2023-12-08

    申请号:CN202311020432.4

    申请日:2023-08-14

    摘要: 本申请涉及月表尘埃测量技术领域,具体而言,涉及一种月表尘埃测量用激光散射室,设置在探测器设备壳体的内部,包括散射室主体、激光器、吸光筒、电路板以及尘埃粒子入口,其中:尘埃粒子入口设置在壳体顶部的外壁上,并且穿过壳体与内部的散射室主体的顶部连通;散射室主体两侧的外壁上设置有第一光路屏蔽槽和第二光路屏蔽槽;激光器设置在第一光路屏蔽槽的下方,吸光筒设置在第二光路屏蔽槽的下方;电路板为光电信号放大电路板,设置在散射室主体的前盖板的外壁上。本申请将球面反射镜、光电转换器安装在一个腔体中,探测测量时,使外部尘埃能够直接进入激光散射室,防止尘埃粒子对探测器壳体内部其他电路元件的影响。

    一种大尺度均匀等离子体环境模拟系统及其模拟方法

    公开(公告)号:CN107993916B

    公开(公告)日:2020-02-04

    申请号:CN201711172553.5

    申请日:2017-11-22

    IPC分类号: H01J37/32

    摘要: 本发明涉及一种大尺度均匀等离子体模拟系统及其模拟方法,属于空间环境模拟与空间环境探测领域。本发明所述的一种大尺度均匀等离子体环境模拟系统中,采用过渡的源舱可以使进入实验舱的等离子体更加均匀;采用亥姆霍兹(Helmholtz)载流线圈,有效减弱或消除了大尺度等离子体环境模拟系统源舱及实验舱内等离子体中荷电粒子漂移效应;采用特殊结构形式的等离子体输出端板,有效提高了源舱和实验舱内等离子体分布径向均匀性,并减小了轴向梯度。本发明所述的一种大尺度均匀等离子体环境模拟方法,可实现大尺度模拟实验舱内等离子体密度分布径向不均匀性<10%(φ500mm尺度范围内),轴向不均匀性<10%(φ500mm尺度范围内)。