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公开(公告)号：CN108550513B
公开(公告)日：2024-05-28
申请号：CN201810533122.5
申请日：2018-05-25
Applicant: 兰州大学
IPC: H01J37/20
Abstract: 本发明公开了一种三维力电透射电镜原位样品杆。包括样品杆前端、样品杆外壳和手握柄，所述的样品杆外壳内部设有传动杆和压电陶瓷管，手握柄上设有用于调节传动杆径向移动的微分头粗调器；传动杆一端压电陶瓷管连接；所述的手握柄内设有压电马达；压电马达与传动杆另一端同轴连接；所述的样品杆外壳上设有一传动杆支点。本发明采用“粗调‑细调”相结合的方式，分别可以实现毫米级别的粗移动和纳米级别的精细移动，既解决装样困难又实现探针XYZ三维大范围的移动，既提高了前端探针的稳定度又通过杠杆模式，进一步提高探针位移的精度。
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公开(公告)号：CN108878238A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201810516913.7
申请日：2018-05-25
Applicant: 兰州大学
IPC: H01J37/20
Abstract: 本发明公开了一种三维重构样品杆，包括手握柄、样品杆主体、样品杆前端；所述的样品杆前端包括M1螺丝钉、前端主体、M1.2螺丝钉、样品压片和铜网；样品杆前端主体与样品杆主体通过M1螺丝钉紧固在一起，样品压片通过M1.2螺丝钉的紧固将铜网一小部分压紧在样品压片和样品杆前端主体之间，而铜网便是透射电镜最常用装载样品的工具。样品杆前端最宽处是在铜网位置，狭窄的前端设计使得样品杆可以实现在透射电镜样品腔内部的大角度倾转，螺丝紧固使得样品处保持高机械稳定度。
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公开(公告)号：CN108550513A
公开(公告)日：2018-09-18
申请号：CN201810533122.5
申请日：2018-05-25
Applicant: 兰州大学
IPC: H01J37/20
Abstract: 本发明公开了一种三维力电透射电镜原位样品杆。包括样品杆前端、样品杆外壳和手握柄，所述的样品杆外壳内部设有传动杆和压电陶瓷管，手握柄上设有用于调节传动杆径向移动的微分头粗调器；传动杆一端压电陶瓷管连接；所述的手握柄内设有压电马达；压电马达与传动杆另一端同轴连接；所述的样品杆外壳上设有一传动杆支点。本发明采用“粗调-细调”相结合的方式，分别可以实现毫米级别的粗移动和纳米级别的精细移动，既解决装样困难又实现探针XYZ三维大范围的移动，既提高了前端探针的稳定度又通过杠杆模式，进一步提高探针位移的精度。
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公开(公告)号：CN106057618B
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201610628566.8
申请日：2016-08-03
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种可扩展力电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括粗调器、信号转接头、样品杆外壳、粗调转接器、转接固定杆、同轴圈、传动杆、压电陶瓷固定器、样品杆头、压电陶瓷管、固定零件、针尖固定器，导电针管、传导电极、纳米针尖和测试电极。将测试及控制信号线插入信号转接头实现外部控制测试模块与样品杆内部压电陶瓷管、纳米针尖与样品的电学控制连接；待样品杆插入透射电镜内部后，控制粗调器将纳米针尖精确移动到距离样品细调的范围内，通过调节外部控制测试模块的驱动信号来控制压电陶瓷管的原位变形，从而控制纳米针尖在细调范围内做纳米级别的精确移动，最后实现纳米针尖与测试样品的机械及电学接触，完成力电性能原位实验。
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公开(公告)号：CN104867802B
公开(公告)日：2018-05-11
申请号：CN201510276385.9
申请日：2015-05-26
Applicant: 兰州大学
IPC: H01J37/20
Abstract: 本发明公开了多场调控磁电功能透射电镜样品杆，多场调控磁电功能透射电镜样品杆，包括样品杆头、样品杆身、手握柄，所述的样品杆身由同轴设置的前端细杆和后端粗杆组成，所述的样品杆身中，前端细杆与后端粗杆通过密封圈连接，前端细杆与样品杆头连接，后端粗杆与手握柄连接；所述的样品杆头设置有微型电磁铁及四电极压电陶瓷管。申请人应用对称性原理和沟槽轨道的设计，使本发明中的样品杆结构对称布置，平衡性好，尺寸紧凑，直线运动，在一定的程度上还减小了内应力和抵消温度引起的形变。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106057618A
公开(公告)日：2016-10-26
申请号：CN201610628566.8
申请日：2016-08-03
Applicant: 兰州大学
CPC classification number: H01J37/20 , H01J37/26 , H01J2237/20278
Abstract: 本发明公开了一种可扩展力电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括粗调器、信号转接头、样品杆外壳、粗调转接器、转接固定杆、同轴圈、传动杆、压电陶瓷固定器、样品杆头、压电陶瓷管、固定零件、针尖固定器，导电针管、传导电极、纳米针尖和测试电极。将测试及控制信号线插入信号转接头实现外部控制测试模块与样品杆内部压电陶瓷管、纳米针尖与样品的电学控制连接；待样品杆插入透射电镜内部后，控制粗调器将纳米针尖精确移动到距离样品细调的范围内，通过调节外部控制测试模块的驱动信号来控制压电陶瓷管的原位变形，从而控制纳米针尖在细调范围内做纳米级别的精确移动，最后实现纳米针尖与测试样品的机械及电学接触，完成力电性能原位实验。
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公开(公告)号：CN105823908A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201610408612.3
申请日：2016-06-08
Applicant: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 , 兰州大学
IPC: G01Q30/20
CPC classification number: G01Q30/20
Abstract: 本发明公开了一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括DEWAR固定圈、DEWAR外罐上部、DEWAR外罐下部、导向销、样品杆外壳、密封圈、固定件和样品杆头、DEWAR內罐上部、DEWAR內罐下部、加热模块、固定板、真空电学接头、导线孔、样品杆内杆、PCB转接板，原位测试芯片。本发明在大温区设计的基础上，可以直接在样品处添加电学信号进行样品材料热电性能研究。采用液氮实现低温及高温冷却功能，快速制冷降温；样品杆头采用可拆卸方式，可以更换扩展功能，实现单一低温、高温或同时实现全温区；加热模块采用芯片微区加热方式，降低热接触，减小热漂移。使用加大工作微区设计，测温元件采用电阻信号变化检测，可以实现实时准确的温度检测。
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公开(公告)号：CN105789004B
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201610247974.9
申请日：2016-04-20
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种全温区热电两场扫描电镜原位物性测量台及其测量方法，包括：样品、样品压片、导热台、测温元件、加热元件、样品台盖子、冷却台顶、冷却管、冷却台底、绝热台顶、绝热柱、绝热台底、扫描电子显微镜连接柱、功能扩展孔、冷却管孔、导线孔、真空法兰模块、冷却控制模块、PID温控及电学测试模块。本发明可以进行样品材料热电性能研究，实现力学、电学和热学多物理场调控下的原位性能研究；实现快速制冷降温；充分利用样品台结构降低导热效果；防止了放电现象和加热过程中图像热干扰而出现层状条纹，使用同轴环状加热模块且采用导热性能良好的紫铜作样品导热台，测温元件处于加热模块和样品之间，实现准确的温度检测。
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公开(公告)号：CN104916516B
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201510275642.7
申请日：2015-05-26
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆，包括样品杆头、样品杆身、手握柄，所述的样品杆身由同轴设置的前端细杆和后端粗杆组成，所述的样品杆头设有载物台，载物台上设置有微型电磁铁以及微加工方式制作电学测试芯片；所述的样品杆身中，前端细杆与后端粗杆通过密封圈连接，前端细杆与样品杆头连接，后端粗杆与手握柄连接。本发明可以在电、磁场下直接原位观察低维磁性结构的单体输运性质，最终实现在纳米甚至原子尺度上理解低维磁结构磁相互作用机制和动态磁性调控机理。
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公开(公告)号：CN104916516A
公开(公告)日：2015-09-16
申请号：CN201510275642.7
申请日：2015-05-26
Applicant: 兰州大学
Abstract: 本发明公开了一种可加电、磁场的透射电子显微镜样品杆，包括样品杆头、样品杆身、手握柄，所述的样品杆身由同轴设置的前端细杆和后端粗杆组成，所述的样品杆头设有载物台，载物台上设置有微型电磁铁以及微加工方式制作电学测试芯片；所述的样品杆身中，前端细杆与后端粗杆通过密封圈连接，前端细杆与样品杆头连接，后端粗杆与手握柄连接。本发明可以在电、磁场下直接原位观察低维磁性结构的单体输运性质，最终实现在纳米甚至原子尺度上理解低维磁结构磁相互作用机制和动态磁性调控机理。
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