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发明公开
一种X射线荧光分析的非线性响应校正方法审中-实审

公开(公告)号：CN118392904A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410489384.1

申请日：2024-04-23

Applicant: 兰州大学

Inventor： 黑大千 , 王星宇 , 李佳桐 , 陈炼 , 徐大鹏 , 蔡平坤 , 廖思宇 , 张逸飞 , 张玉洁

IPC: G01N23/223

Abstract: 本发明公开了一种X射线荧光分析的非线性响应校正方法，基于X射线荧光基本物理过程，通过计算元素间吸收增强系数，对样品中元素间基体效应校正，根据理论计算得到对应元素的非线性响应校正方程，经修正后元素浓度变化与特征X射线强度呈线性响应。本发明针对以往修正方法需要多样品建立标准曲线、只适用于特定分析条件的缺陷，基于多元素样品间吸收增强效应物理过程，对元素浓度与特征X射线的非线性响应校正，本发明无需标样适用于相同元素种类的大梯度范围样品，适用于不同的分析条件。

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