公开(公告)号：CN102013369A

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：CN201010548689.3

申请日：2009-04-10

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 冢本健夫 ,  洼田央一

IPC: H01J1/304 ,  H01J29/04 ,  H01J31/12

CPC classification number: H01J1/3046 ,  H01J29/04 ,  H01J31/127

Abstract: 本发明涉及电子发射器件、电子源、电子束装置和图像显示装置。电子发射器件包括：绝缘构件；阴极，布置在所述绝缘构件的表面上；以及栅极，布置在所述绝缘构件的所述表面上以便与所述阴极相对，其中，所述绝缘构件在阴极所在的所述表面上具有凹部，所述阴极具有突起部分，所述突起部分从所述凹部的边缘向着所述栅极突起，以及所述突起部分与所述凹部接触。

公开(公告)号：CN104076002A

公开(公告)日：2014-10-01

申请号：CN201410112135.7

申请日：2014-03-25

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 洼田央一 ,  山口小百合

IPC: G01N21/31 ,  G01N21/23

CPC classification number: G01N21/3586

Abstract: 一种用太赫兹波获取样本信息的信息获取装置和信息获取方法。该信息获取装置包括：照射单元，被配置为通过与样本接触的透射构件用太赫兹波照射样本的照射位置；检测单元，被配置为检测由透射构件反射的太赫兹波和由样本反射的太赫兹波；波形获取单元，被配置为通过使用检测单元的检测结果来获取透射构件反射的太赫兹波的时间波形和样本反射的太赫兹波的时间波形；及信息获取单元，被配置为通过使用透射构件反射的太赫兹波的时间波形、样本反射的太赫兹波的时间波形、及与透射构件在照射位置处的厚度相关的信息来获取样本的信息。

公开(公告)号：CN101556892B

公开(公告)日：2011-09-07

申请号：CN200910133527.0

申请日：2009-04-10

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 冢本健夫 ,  洼田央一

IPC: H01J29/48 ,  H01J31/12

CPC classification number: H01J1/3046 ,  H01J29/04 ,  H01J31/127

Abstract: 本发明提供了一种新型电子束装置以及使用电子束装置的图像显示装置，所述电子束装置改善电子发射特性的不稳定性并提供了高效电子发射特性。该电子束装置包括：表面上具有凹部的绝缘构件；阴极，具有在绝缘构件的外表面和凹部的内表面上延伸的突起部分；栅极，与突起部分相对地被设置在绝缘构件的外表面上；以及通过栅极与突起部分相对布置的阳极。

公开(公告)号：CN101556892A

公开(公告)日：2009-10-14

申请号：CN200910133527.0

申请日：2009-04-10

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 冢本健夫 ,  洼田央一

IPC: H01J29/48 ,  H01J31/12

CPC classification number: H01J1/3046 ,  H01J29/04 ,  H01J31/127

Abstract: 本发明提供了一种新型电子束装置以及使用电子束装置的图像显示装置，所述电子束装置改善电子发射特性的不稳定性并提供了高效电子发射特性。该电子束装置包括：表面上具有凹部的绝缘构件；阴极，具有在绝缘构件的外表面和凹部的内表面上延伸的突起部分；栅极，与突起部分相对地被设置在绝缘构件的外表面上；以及通过栅极与突起部分相对布置的阳极。