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公开(公告)号:CN108918529A
公开(公告)日:2018-11-30
申请号:CN201810605915.3
申请日:2018-06-13
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种透明介质的表面划痕成像检测装置及其检测方法,检测装置包括平行光源模块、第一傅里叶透镜、空间滤波模块、成像镜头、探测器模块以及数据处理模块;所述平行光源模块输出平行光束,平行光束先后通过被测样品以及第一傅里叶透镜形成汇聚光束,汇聚光束先后通过空间滤波模块以及成像镜头到达探测器模块,所述空间滤波模块置于第一傅里叶透镜的焦平面上,所述探测器模块输出端与数据处理模块输入端通信连接。本发明通过空间滤波模块,去除采集图像的背景光强干扰,做到对透明介质的表面划痕单独成像,划痕检测精度高,同时由于是对透明介质的表面划痕单独成像分析,数据处理量低,有效提高检测精度。本发明用于检测透明介质的表面划痕。
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公开(公告)号:CN114018790A
公开(公告)日:2022-02-08
申请号:CN202111242938.0
申请日:2021-10-25
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种流式颗粒探测装置,包括光源、偏振入射光路、流式样品机构、散射接收光路、分光系统、数据处理端和用于放置含有微型颗粒的水体的样品池,光源发出的第一偏振光经偏振入射光路聚焦后形成聚焦区域;流式样品机构设置在偏振入射光路远离光源的一侧并与样品池连接,用于使样品池内的水体循环经过聚焦区域;散射接收光路接收来自聚焦区域中的微型颗粒的散射光信号并传输至分光系统,散射光信号由分光系统分成多束不同偏振态的第二偏振光,多束第二偏振光分别通过光电转换器传输至数据处理端。本发明能够避免对水样中的同一微型颗粒进行重复探测,能够得到水样中微型颗粒更完整的信息,从而能够更好的对水体环境进行判别与分析。
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公开(公告)号:CN107907518A
公开(公告)日:2018-04-13
申请号:CN201711317409.6
申请日:2017-12-12
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6402 , G01N21/6428 , G01N2201/12
Abstract: 本发明公开了一种在高散射介质中的动态荧光成像装置,包括:相机、激发光源、样品固定台,所述激发光源、样品固定台、相机分别通过光路连接,所述成像装置还包括:计算机、双色镜,所述相机的镜头前设有滤波片,所述激发光源的输出端前设有扩束镜,所述计算机与所述相机电连接,所述计算机内设有用于对所述图像进行处理的算法模块。该成像装置利用双色镜的反射和透射特性,过滤掉背景光,使得相机可以获得原始荧光图像,同时利用计算机内的算法模块,对原始荧光图像进行处理,从而获得对分辨率、对比度高的荧光图像。同时,本发明创造还提供一种基于所述成像装置的动态荧光成像方法。该装置及其方法可广泛应用于生物荧光分子成像。
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公开(公告)号:CN114018831A
公开(公告)日:2022-02-08
申请号:CN202111260156.X
申请日:2021-10-28
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明提供一种穆勒矩阵测量装置,包括:光源、第一分光器、第二分光器、第一检偏器、接收光路、第二检偏器,光源产生多个不同偏振态的入射偏振光,经第一分光器分成两路入射偏振光;其中一路入射偏振光进入第一检偏器进行实时检偏;另一路入射偏振光经入射光路投射在样品上;接收光路接收样品被照射后所散射的出射光后传输至第二检偏器进行实时检偏;其中,光源包括多个用于分别产生不同偏振态的入射偏振光的发光组件、用于控制多个发光组件开关的控制器以及将多个发光组件发出的入射偏振光投射到第一分光器上的投射组件。本发明能够快速连续地转换入射偏振光的偏振态,满足对快速变化的样品进行穆勒矩阵测量。
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公开(公告)号:CN113837998A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202110954272.5
申请日:2021-08-19
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明涉及一种基于深度学习的图片自动调整对齐的方法及设备,包括以下步骤:模型的建立包括以下步骤:采用卷积神经网络对图像进行学习,在训练阶段,首先转换现有的所需调整对齐的图片和模板图片成灰度图并标注标签信息,形成的训练数据集中的标签集;然后将训练数据集输入U‑net网络中,采用随机梯度下降法更新网络的参数,迭代多次,得到U‑net网络模型;将变换后的灰度图均输入模型,计算初图片背景S1和模板背景S2的质心点z1和z2;比较质心点z1和z2在图片中的相对位置,得到偏移量,然后根据该偏移量用计算机调整得到自适应调整后的准确图片,通过运用深度学习技术,经过图像训练后能快速、精准地识别图像的背景,所得结果快速、客观、准确、稳定。
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公开(公告)号:CN113837225A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202110980303.4
申请日:2021-08-25
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明涉及3D打印领域,特别是涉及一种基于深度学习的缺陷检测3D打印装置,包括机架和打印机喷头,机架上设有对准3D打印机喷头的第一图像采集装置和第二图像采集装置,第一图像采集装置与第二图像采集装置呈相对设置,第一图像采集装置与第二图像采集装置与3D打印机喷头始终位于同一水平面上,第一图像采集装置和第二图像采集装置与带有卷积神经网络的存储器信号连接,存储器与控制器和报警器信号连接。本3D打印装置为一种基于深度学习的缺陷检测方法提供了硬件基础。种基于深度学习的缺陷检测3D打印方法,本方法不需要用到X射线来扫描,减少能源损耗,符合绿色环保意识。本方法能及时发现模板缺陷,及时停止打印,节约时间与大量的资源。
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公开(公告)号:CN114033936A
公开(公告)日:2022-02-11
申请号:CN202111225656.X
申请日:2021-10-21
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种高精度旋转平台,包括转盘、底座和启动齿轮,底座内部中空,启动齿轮贯穿设置在底座一侧面上,且与底座转动连接,底座内设有与启动齿轮连接并由启动齿轮驱动的齿轮减速组件和与齿轮减速组件连接并由齿轮减速组件驱动旋转的转动齿轮,底座外侧可拆卸安装有用于锁定启动齿轮的锁定装置,转盘安装在转动齿轮的上。本发明制作简单成本低,尺寸小巧便于布局,角度调节范围广,精度高。
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公开(公告)号:CN114018766A
公开(公告)日:2022-02-08
申请号:CN202111233425.3
申请日:2021-10-22
Applicant: 佛山科学技术学院 , 佛山市灵觉科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种多波长散射偏振荧光测量装置,包括光源、偏振调制系统、入射光路、接收光路、第一分光系统、第二分光系统和数据处理端,其中,光源发出的多波长光,经过偏振调制系统后产生第一偏振光,经过入射光路照射在水样中的悬浮颗粒物,接收光路接收来自被照射的悬浮颗粒物的散射光信号并传送至第一分光系统,散射光信号由第一分光系统分成多束不同的平行散射光,其中多束平行散射光中的一束平行散射光由第二分光系统分成多束不同偏振态的第二偏振光,多束第二偏振光分别通过光电转换器传输至数据处理端,多束平行散射光中的其余平行散射光分别通过荧光探测器传输至数据处理端。本发明能够提高对悬浮颗粒物识别的准确性。
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公开(公告)号:CN107907519A
公开(公告)日:2018-04-13
申请号:CN201711317433.X
申请日:2017-12-12
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6402 , G01N21/6428 , G01N21/6486 , G01N2201/12
Abstract: 本发明公开了一种荧光分子信号的成像方法,包括步骤:获取荧光分子信号的时域数据;将所述时域数据转化为频域数据;从所述频域数据中提取动态荧光分子信号的频域数据,并以所述动态荧光分子信号的频域数据重建图像。本方法利用动、静态荧光分子信号在频率上差异这个特点,将荧光分子信号从时域数据转化为频域数据,从而将动、静态荧光分子信号有效区分,然后再对动态荧光分子信号进行重建成像,该成像由于去除了静态荧光分子信号的干扰,因此在对比度上都远远优于现有技术。同时,还提供一种基于上述方法的装置,包括:探测器,计算机、激光器、三维载物台。该方法及其装置可广泛应用于生物荧光分子成像。
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公开(公告)号:CN208255081U
公开(公告)日:2018-12-18
申请号:CN201820918194.7
申请日:2018-06-13
Applicant: 佛山科学技术学院
IPC: G01N21/88
Abstract: 本实用新型公开了一种透明介质的表面划痕成像检测装置,包括平行光源模块、第一傅里叶透镜、空间滤波模块、成像镜头、探测器模块以及数据处理模块;所述平行光源模块输出平行光束,平行光束先后通过被测样品以及第一傅里叶透镜形成汇聚光束,汇聚光束先后通过空间滤波模块以及成像镜头到达探测器模块,所述空间滤波模块置于第一傅里叶透镜的焦平面上,所述探测器模块输出端与数据处理模块输入端通信连接。本实用新型通过空间滤波模块,去除采集图像的背景光强干扰,做到对透明介质的表面划痕单独成像,划痕检测精度高,同时由于是对透明介质的表面划痕单独成像分析,数据处理量低,有效提高检测精度。本实用新型用于检测透明介质的表面划痕。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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