公开(公告)号：CN116057419A

公开(公告)日：2023-05-02

申请号：CN202180051628.2

申请日：2021-08-02

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 野口登 ,  西冈幸也

IPC: G01T7/00

Abstract: 放射线检测装置具备：挠性基板；放射线检测部，其位于挠性基板上；驱动电路部，其在挠性基板的边部上与放射线检测部相邻地配置，驱动放射线检测部；以及外部连接用的中继部，其位于从挠性基板的边部向外侧延伸的延伸部，具有与驱动电路部连接的多个布线层。此外，中继部也可以是边部侧的根部的宽度比边部的长度短的结构。

公开(公告)号：CN115152024A

公开(公告)日：2022-10-04

申请号：CN202180016936.1

申请日：2021-02-01

Applicant: 京瓷株式会社

Inventor： 野口登 ,  柳原康宏 ,  岛信之

IPC: H01L27/146 ,  H01L31/10

Abstract: 具备基板和多个像素部，多个像素部包含：位于有效区域内的像素部的第1光检测元件；和位于非有效区域内的像素部的第2光检测元件。第1光检测元件具有第1下部电极层、第1下部杂质半导体层、第1本征半导体层、第1上部杂质半导体层以及第1上部电极层，第2光检测元件具有第2下部电极层、第2下部杂质半导体层、第2本征半导体层、第2上部杂质半导体层以及第2上部电极层，第2下部电极层被第2下部杂质半导体层以及第2本征半导体层覆盖。