光检测装置
    1.
    发明公开
    光检测装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN115152024A

    公开(公告)日:2022-10-04

    申请号:CN202180016936.1

    申请日:2021-02-01

    Abstract: 具备基板和多个像素部,多个像素部包含:位于有效区域内的像素部的第1光检测元件;和位于非有效区域内的像素部的第2光检测元件。第1光检测元件具有第1下部电极层、第1下部杂质半导体层、第1本征半导体层、第1上部杂质半导体层以及第1上部电极层,第2光检测元件具有第2下部电极层、第2下部杂质半导体层、第2本征半导体层、第2上部杂质半导体层以及第2上部电极层,第2下部电极层被第2下部杂质半导体层以及第2本征半导体层覆盖。

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