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公开(公告)号:CN101800522A
公开(公告)日:2010-08-11
申请号:CN201010129243.7
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: H04B1/40 , H01G7/06 , H01P1/20336 , H03B5/1841 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/30
Abstract: 本发明对具有铁电电容器的可调谐带通滤波器中的损耗进行量化并设法使之减小。在给定所需的插入损耗和谐振器的品质因子后,考虑由铁电电容器特定拓扑结构引致的几何损耗以及金属损耗,从而定量出可接受的铁电损耗。
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公开(公告)号:CN101814903A
公开(公告)日:2010-08-25
申请号:CN201010129230.X
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: H04B1/40 , H01G7/06 , H01P1/20336 , H03B5/1841 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/30
Abstract: 本发明对具有铁电电容器的可调谐带通滤波器中的损耗进行量化并设法使之减小。在给定所需的插入损耗和谐振器的品质因子后,考虑由铁电电容器特定拓扑结构引致的几何损耗以及金属损耗,从而定量出可接受的铁电损耗。
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公开(公告)号:CN101174507B
公开(公告)日:2011-06-29
申请号:CN200610098892.9
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: G01R27/2694 , H01G7/06 , H01L27/0808 , H01P1/203 , H01P1/20336 , H01P1/20363 , H01P1/20381 , H01P1/2039 , H01P1/2056 , H01P1/213 , H01P5/04 , H03B5/04 , H03B5/124 , H03B5/1262 , H03B5/1293 , H03B5/1841 , H03B5/362 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03H7/20 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/0053 , H04B1/0458 , H04B1/30 , H04B1/40
Abstract: 本发明公开了一种可调谐铁电元件(610-614)以及用于测量该铁电元件损耗的窄带谐振电路(610-620)。该铁电元件可以是集成在谐振电路中的电容器。测试方法消除其它来源的损耗,从而分离出由铁电材料引致的损耗,并且证实这种损耗是很低的。
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公开(公告)号:CN100557738C
公开(公告)日:2009-11-04
申请号:CN02811167.2
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: H04B1/40 , H01G7/06 , H01P1/20336 , H03B5/1841 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/30
Abstract: 本发明对具有铁电电容器的可调谐带通滤波器中的损耗进行量化并设法使之减小。在给定所需的插入损耗和谐振器的品质因子后,考虑由铁电电容器特定拓扑结构引致的几何损耗以及金属损耗,从而定量出可接受的铁电损耗。
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公开(公告)号:CN101136618A
公开(公告)日:2008-03-05
申请号:CN200710135792.3
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: G01R27/2694 , H01G7/06 , H01L27/0808 , H01P1/203 , H01P1/20336 , H01P1/20363 , H01P1/20381 , H01P1/2039 , H01P1/2056 , H01P1/213 , H01P5/04 , H03B5/04 , H03B5/124 , H03B5/1262 , H03B5/1293 , H03B5/1841 , H03B5/362 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03H7/20 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/0053 , H04B1/0458 , H04B1/30 , H04B1/40
Abstract: 本发明对具有铁电电容器的可调谐带通滤波器中的损耗进行量化并设法使之减小。在给定所需的插入损耗和谐振器的品质因子后,考虑由铁电电容器特定拓扑结构引致的几何损耗以及金属损耗,从而定量出可接受的铁电损耗。
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公开(公告)号:CN100419440C
公开(公告)日:2008-09-17
申请号:CN02810744.6
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: H04B1/40 , H01G7/06 , H01P1/20336 , H03B5/1841 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/30
Abstract: 本发明公开了一种用于测定由铁电元件引致的损耗的方法,其包括:制作一个包括有铁电元件的电路;测量综合损耗,所述综合损耗包括由所述铁电元件引致的插入损耗以及由其它损耗来源引致的插入损耗分量;测定由其它损耗来源引致的插入损耗分量;以及从测量得到的综合损耗中去除由其它损耗来源引致的插入损耗分量,以确定由所述铁电元件引致的损耗。所述铁电元件可以是集成在谐振电路中的电容器。所述测定方法消除其它来源的损耗,从而分离出由铁电材料引致的损耗,并且证实这种损耗是很低的。利用这种测试方法,可以成功地对铁电膜材料进行研究,以在损耗、可调谐性以及其它参数之间寻求理想的折衷。
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公开(公告)号:CN101174507A
公开(公告)日:2008-05-07
申请号:CN200610098892.9
申请日:2002-04-02
Applicant: 京瓷无线公司
Inventor: 斯坦利·斯拉夫科·通西赫
CPC classification number: G01R27/2694 , H01G7/06 , H01L27/0808 , H01P1/203 , H01P1/20336 , H01P1/20363 , H01P1/20381 , H01P1/2039 , H01P1/2056 , H01P1/213 , H01P5/04 , H03B5/04 , H03B5/124 , H03B5/1262 , H03B5/1293 , H03B5/1841 , H03B5/362 , H03F1/56 , H03F3/191 , H03F2200/111 , H03F2200/294 , H03F2200/372 , H03H7/0123 , H03H7/12 , H03H7/20 , H03J5/246 , H03L1/022 , H03L7/18 , H04B1/0053 , H04B1/0458 , H04B1/30 , H04B1/40
Abstract: 本发明公开了一种可调谐铁电元件(610-614)以及用于测量该铁电元件损耗的窄带谐振电路(610-620)。该铁电元件可以是集成在谐振电路中的电容器。测试方法消除其它来源的损耗,从而分离出由铁电材料引致的损耗,并且证实这种损耗是很低的。
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