GaN芯片负压控制电路及设备

    公开(公告)号:CN108964425A

    公开(公告)日:2018-12-07

    申请号:CN201810724211.8

    申请日:2018-07-04

    IPC分类号: H02M1/08

    摘要: 本发明涉及一种GaN芯片负压控制电路及设备。GaN芯片负压控制电路包括比较器电路,漏压关断电路,以及正极分别用于接入负压信号、连接GaN芯片的栅压管脚的二极管;比较器电路包括第一比较器和第二比较器;第一比较器的输出端连接二极管的负极,输入端连接TDD信号端;第二比较器的输入端接入负压信号;漏压关断电路的输入端连接第二比较器的输出端,输出端连接GaN芯片的漏极。基于上述结构,解决GaN芯片的供电时序控制问题,保证栅压开启到芯片工作电压后,漏压才开启,有效保证芯片的正常工作。在不关断漏压的情况下,通过比较器实现由高低电平信号控制栅压从负压到工作电压之间的切换,实现TDD模式下GaN芯片的正常工作。

    一种滤波器指标的调整方法及装置

    公开(公告)号:CN108649925A

    公开(公告)日:2018-10-12

    申请号:CN201810735805.9

    申请日:2018-07-06

    IPC分类号: H03H17/02

    CPC分类号: H03H17/02

    摘要: 本申请实施例涉及电子技术领域,尤其涉及一种滤波器指标的调整方法及装置。监控模块向信号发生器发送测试命令,测试命令用于指示信号发生器产生向滤波器发送的具有第一功率的第一导频信号,监控模块接收第二导频信号的第二功率,第二功率是信号接收器根据接收到的第二导频信号确定的,监控模块根据第二功率和第一功率确定检测频点的实际指标,若实际指标与检测频点的标准指标之差超出预设范围,则向可调模块发送调整指令,直至检测频点上的实际指标与标准指标之差符合预设范围。由于通过监控模块对可调模块进行调试得到,且完全通过监控模块根据实际指标与检测频点的标准指标之差确定如何调整直至满足要求,可以减少调试过程中的所需的人力资源。

    GaN芯片负压控制电路及设备

    公开(公告)号:CN108964425B

    公开(公告)日:2019-12-31

    申请号:CN201810724211.8

    申请日:2018-07-04

    IPC分类号: H02M1/08

    摘要: 本发明涉及一种GaN芯片负压控制电路及设备。GaN芯片负压控制电路包括比较器电路,漏压关断电路,以及正极分别用于接入负压信号、连接GaN芯片的栅压管脚的二极管;比较器电路包括第一比较器和第二比较器;第一比较器的输出端连接二极管的负极,输入端连接TDD信号端;第二比较器的输入端接入负压信号;漏压关断电路的输入端连接第二比较器的输出端,输出端连接GaN芯片的漏极。基于上述结构,解决GaN芯片的供电时序控制问题,保证栅压开启到芯片工作电压后,漏压才开启,有效保证芯片的正常工作。在不关断漏压的情况下,通过比较器实现由高低电平信号控制栅压从负压到工作电压之间的切换,实现TDD模式下GaN芯片的正常工作。