公开(公告)号：CN117030553B

公开(公告)日：2024-03-08

申请号：CN202311294609.X

申请日：2023-10-09

申请人： 乌镇实验室

发明人： 张潇雅 ,  方筑 ,  单国明

IPC分类号： G01N15/02 ,  B03C7/02

公开(公告)号：CN117030553A

公开(公告)日：2023-11-10

申请号：CN202311294609.X

申请日：2023-10-09

申请人： 乌镇实验室

发明人： 李水清 ,  靳星 ,  张潇雅 ,  方筑 ,  单国明

IPC分类号： G01N15/02 ,  B03C7/02

摘要： 本发明公开了一种粉体颗粒的粒径测量和筛分收集方法。为了克服现有技术无法对粉体颗粒进行直接粒径测量和筛分收集问题；本发明包括以下步骤：构建均匀电场，计算获得电场强度；根据粉体颗粒的粒径获得电荷量，计算不同粒径的粉体颗粒垂直进入电场后在电场中的运动轨迹；根据粉体颗粒在电场中的移动距离计算测量粒径；根据需求收集的粒径，开设颗粒获取出口。根据不同粒径的粉体颗粒具有不同位移的原理，以实现对粉体颗粒在生产过程中的粒径大小的实时监控与高精度测量，进一步实现粉体颗粒的筛分与收集。