公开(公告)号：CN111290041A

公开(公告)日：2020-06-16

申请号：CN202010197933.X

申请日：2020-03-19

Applicant: 之江实验室 ,  浙江大学

Inventor： 高晓文 ,  陈杏藩 ,  傅振海 ,  付盼 ,  李楠 ,  胡慧珠 ,  刘承

IPC: G01V8/10

Abstract: 本发明公开了一种利用电光调制器比例补偿抑制光源强度噪声的方法和装置。利用光分束器件将光源输出按比例分束，形成一对高功率和低功率光束，对高功率光束进行采样，获取光强波动信息，通过信号处理模块将调制信号加载至电光调制器，以调制低功率光束的光强波动，以产生与高功率光束强度相同、相位差为180度的光信号，最后与高功率光束合束输出，从而达到抑制输出光光强波动的效果。本发明克服了电光调制器功率阈值低的缺点，实现了大功率激光器在强度噪声抑制，成本低，易于应用实施。

公开(公告)号：CN111044417A

公开(公告)日：2020-04-21

申请号：CN201911269969.8

申请日：2019-12-11

Applicant: 之江实验室

Inventor： 高晓文 ,  傅振海 ,  李楠 ,  付盼 ,  陈杏藩 ,  胡慧珠 ,  刘承

IPC: G01N15/02

Abstract: 本发明公开了一种利用光的力学效应检测微粒尺寸的装置及测试方法。所述的装置，包括三个模块：双光束捕获模块，样品池模块，位置探测模块，信号处理模块；样品池模块中设有待测微粒，通过双光束捕获模块将待测微粒稳定捕获，通过位置探测模块获取微粒的位置信息。本发明还提供了一种利用该装置的光学效应进行微粒尺寸检测的方法，采用光学非接触式的手段，不需要复杂的机械结构即可测量nm尺度微粒小球尺寸，测试步骤简单，所需物理量小。

公开(公告)号：CN111290041B

公开(公告)日：2022-06-21

申请号：CN202010197933.X

申请日：2020-03-19

Applicant: 之江实验室 ,  浙江大学

Inventor： 高晓文 ,  陈杏藩 ,  傅振海 ,  付盼 ,  李楠 ,  胡慧珠 ,  刘承

IPC: G01V8/10

Abstract: 本发明公开了一种利用电光调制器比例补偿抑制光源强度噪声的方法和装置。利用光分束器件将光源输出按比例分束，形成一对高功率和低功率光束，对高功率光束进行采样，获取光强波动信息，通过信号处理模块将调制信号加载至电光调制器，以调制低功率光束的光强波动，以产生与高功率光束强度相同、相位差为180度的光信号，最后与高功率光束合束输出，从而达到抑制输出光光强波动的效果。本发明克服了电光调制器功率阈值低的缺点，实现了大功率激光器在强度噪声抑制，成本低，易于应用实施。