一种基坑结构及其施工方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112411556A

    公开(公告)日:2021-02-26

    申请号:CN202011457434.6

    申请日:2020-12-11

    IPC分类号: E02D17/02 E02D17/04

    摘要: 本申请实施例公开了一种基坑结构及其施工方法,包括一期基坑、二期基坑、三期基坑、支护单元、一期地下室、二期地下室以及三期地下室,一期基坑与轨道交通间隔设置,支护单元设置在轨道交通靠近一期基坑的一侧土层中,二期基坑与三期基坑并排设置在一期基坑与支护单元之间;一期地下室包括多个支撑墩以及一期底板、一期中板和一期顶板,多个支撑墩分别固设在一期中板和一期顶板上;二期地下室包括二期底板、二期中板和二期顶板;三期地下室包括三期底板、三期中板和三期顶板;支撑墩与支护单元能够分别作为临时支撑的两端。本申请实施例的一种基坑结构及其施工方法,具有工程造价低的优点。

    利用静力触探比贯入阻力确定扁铲侧胀试验基准水平基床系数的方法

    公开(公告)号:CN107130577B

    公开(公告)日:2019-07-16

    申请号:CN201710390386.5

    申请日:2017-05-27

    IPC分类号: E02D1/00

    摘要: 本发明公开了一种利用静力触探比贯入阻力确定扁铲侧胀试验基准水平基床系数的方法,包括步骤:1)对测量地区土层进行静力触探试验,采集测量地区的静力触探比贯入阻力ps;2)通过计算获得扁铲侧胀试验基准水平基床系数Kh1,计算公式为:对于黏性土:对于砂类土:Kh1=33.13ps。本发明可通过静力触探比贯入阻力ps快速、准确、经济地获取地层的扁铲侧胀试验基准水平基床系数,为工程设计提供参考。本发明在不增加测试技术手段的前提下,解决了利用静力触探测试技术直接快速测试扁铲侧胀试验基准水平基床系数的问题,拓展了静力触探的应用功能,节约了勘察成本,提高了效率,效果明显。

    利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法

    公开(公告)号:CN107022995B

    公开(公告)日:2019-04-02

    申请号:CN201710391163.0

    申请日:2017-05-27

    IPC分类号: E02D1/02

    摘要: 本发明公开了利用静力触探比贯入阻力确定旁压试验基准水平基床系数的方法,包括步骤:1)对测量地区土层进行静力触探试验,采集测量地区的静力触探比贯入阻力ps;2)通过计算获得旁压试验基准水平基床系数Kh1,计算公式为:对于黏性土:对于砂类土:Kh1=6.57ps。本发明可通过静力触探比贯入阻力ps快速、准确、经济地获取地层的旁压试验基准水平基床系数,为工程设计提供参考。本发明在不增加测试技术手段的前提下,解决了利用静力触探测试技术直接快速测试原本需要旁压试验才能得到旁压试验基准水平基床系数的问题,拓展了静力触探的应用功能,节约了勘察成本,提高了效率,效果明显。