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公开(公告)号：CN101349725B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN200710075893.6
申请日：2007-07-17
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
IPC分类号： G01R31/00 , G01R27/02 , G01R27/26 , G01R27/28 , G01R31/02 , G01R31/28 , G01R31/26 , G01R31/06 , G01R29/20 , G01R31/327
摘要： 本发明提供了一种模块化扫描工具，用于辅助至少一测量装置对待测物进行测量，所述的模块化扫描工具包含：至少一扫描测试模块，每一扫描测试模块设有复数个扫描测试信道及至少一测量电路，用于电性连接该待测物之输出入端；至少一存储单元，用来暂存对测量参数及条件进行控制的控制信息；至少一第一检测单元，用于检测所述的扫描测试模块的使用状态，且选择其中对应的扫描测试模块并决定适当的测量电路以测试待测物；以及一数据处理单元，用来在所述的存储单元存取所述的控制信息，使所述的存储单元传送控制信息给对应的扫描测试模块，并用来产生一启动信号通过所述的第一检测单元传送至所述的存储单元以准备进行测量。
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公开(公告)号：CN101452025B
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200710077449.8
申请日：2007-11-30
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
摘要： 本发明提供了一种浮接式高电压高电流同步测量的方法及装置，包括一微处理控制单元、一电压输出单元、一电流输出单元、一第一检测单元及一第二检测单元，所述电流输出单元包括一变压器，产生浮接式高电压输出，电流输出单元包括一电流互感器，产生浮接式大电流输出，第一检测单元的输入端连接电压输出单元，输出端连接微处理控制单元，用来将变压器产生的浮接式高电压转换为非浮接状态的电流及电压值，并将其电流及电压值提供给微处理控制单元进行计算与显示；第二检测单元的输入端连接电流输出单元，输出端连接微处理控制单元，将电流互感器产生的浮接式大电流转换为非浮接状态的电流及电压值，并将其电流及电压值提供给微处理控制单元进行计算与显示。
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公开(公告)号：CN101329372A
公开(公告)日：2008-12-24
申请号：CN200710075099.1
申请日：2007-06-21
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
摘要： 本发明提供了一种交换式电路高压/高电流输出方法及其装置，其交流产生装置包含：一可将交流产生装置产生的交流信号转换为交换式数字信号，并可提高输出功率的交换式功率装置；一作为滤除该交换式功率装置的高频率数字信号，保留交流产生装置输出频率以及交换式功率装置的输出功率的高频滤波器；一具有初级及次级的高压变压器，且次级产生高压输出；一可读取次级输出电流值的电流装置；一可提供微处理控制器以及回授到交换式功率装置所能允许的回授信号的分压器；一微处理控制器，读取输出的电压值以及电流值；利用交换式电路高压高电流输出模块提供高压以及高电流输出以提高能源效率，进而提高设备可靠度，以及测试设备量测待测物的使用可靠度。
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公开(公告)号：CN101846710B
公开(公告)日：2012-12-19
申请号：CN200910131241.9
申请日：2009-04-10
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
IPC分类号： G01R31/02
摘要： 本发明公开了一种待测物的接触检查系统，该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路，该接触检查系统包括一交流电源、一变压器、一整流电路以及一切换开关，该变压器的一次侧与该交流电源连接，变压器的二次侧与该漏电流测试电路连接，该整流电路的该输入端设有一电压量测点，该电压量测点是与该交流电源相连接，该切换开关具有一第一输入端、一第二输入端以及一输出端，其中该第一输入端是与该漏电流测试电路相连接，该第二输入端是与该整流电路的输出端相连接，该输出端是与该漏电流测试电路相连接。
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公开(公告)号：CN101452025A
公开(公告)日：2009-06-10
申请号：CN200710077449.8
申请日：2007-11-30
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
摘要： 本发明提供了一种浮接式高电压高电流同步测量的方法及装置，包括一微处理控制单元、一电压输出单元、一电流输出单元、一第一检测单元及一第二检测单元，所述电流输出单元包括一变压器，产生浮接式高电压输出，电流输出单元包括一电流互感器，产生浮接式大电流输出，第一检测单元的输入端连接电压输出单元，输出端连接微处理控制单元，用来将变压器产生的浮接式高电压转换为非浮接状态的电流及电压值，并将其电流及电压值提供给微处理控制单元进行计算与显示；第二检测单元的输入端连接电流输出单元，输出端连接微处理控制单元，将电流互感器产生的浮接式大电流转换为非浮接状态的电流及电压值，并将其电流及电压值提供给微处理控制单元进行计算与显示。
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公开(公告)号：CN101413977A
公开(公告)日：2009-04-22
申请号：CN200710124017.8
申请日：2007-10-17
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
摘要： 本发明提供了一种高压测量装置及其操作方法，用来对待测试物品进行高压测试，所述的高压测量装置包括：基频产生电路，用来产生高压测试时所需要的基本频率；以及，高压输出模块，与所述的基频产生电路连接，所述的高压输出模块包括锁相环电路与复数个输出级电路，所述的锁相环电路用来接收所述的基本频率，并用来产生倍频信号输入所述的复数个输出级电路，所述的复数个输出级电路用来放大输出所需的测试电压。本发明提供的技术方案使得高压装置的体积减少，减少配线；并且采用开关式放大电路以降低高压测试时的功率输出级能量损耗，提高能源效率；此外，本发明提供的技术方案还能提供可变频率同相位测试高压输出。
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公开(公告)号：CN101413977B
公开(公告)日：2011-06-15
申请号：CN200710124017.8
申请日：2007-10-17
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
摘要： 本发明提供了一种高压测量装置，用来对待测试物品进行高压测试，所述的高压测量装置包括：基频产生电路，用来产生高压测试时所需要的基本频率；以及，高压输出模块，与所述的基频产生电路连接，所述的高压输出模块包括锁相环电路与复数个输出级电路，所述的锁相环电路用来接收所述的基本频率，并用来产生倍频信号输入所述的复数个输出级电路，所述的复数个输出级电路用来放大输出所需的测试电压。本发明提供的技术方案使得高压装置的体积减少，减少配线；并且采用开关式放大电路以降低高压测试时的功率输出级能量损耗，提高能源效率；此外，本发明提供的技术方案还能提供可变频率同相位测试高压输出。
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公开(公告)号：CN101846710A
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200910131241.9
申请日：2009-04-10
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
IPC分类号： G01R31/02
摘要： 本发明公开了一种待测物的接触检查系统，该待测物是电性耦合在一漏电流测试电路，该接触检查系统包括一交流电源、一变压器、一整流电路以及一切换开关，该变压器的一次侧与该交流电源连接，变压器的二次侧与该漏电流测试电路连接，该整流电路的该输入端设有一电压量测点，该电压量测点是与该交流电源相连接，该切换开关具有一第一输入端、一第二输入端以及一输出端，其中该第一输入端是与该漏电流测试电路相连接，该第二输入端是与该整流电路的输出端相连接，该输出端是与该漏电流测试电路相连接。
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公开(公告)号：CN101349725A
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200710075893.6
申请日：2007-07-17
申请人： 中茂电子(深圳)有限公司
IPC分类号： G01R31/00 , G01R27/02 , G01R27/26 , G01R27/28 , G01R31/02 , G01R31/28 , G01R31/26 , G01R31/06 , G01R29/20 , G01R31/327
摘要： 本发明提供了一种模块化扫描工具，用于辅助至少一测量装置对待测物进行测量，所述的模块化扫描工具包含：至少一扫描测试模块，每一扫描测试模块设有复数个扫描测试信道及至少一测量电路，用于电性连接该待测物之输出入端；至少一存储单元，用来暂存对测量参数及条件进行控制的控制信息；至少一第一检测单元，用于检测所述的扫描测试模块的使用状态，且选择其中对应的扫描测试模块并决定适当的测量电路以测试待测物；以及一数据处理单元，用来在所述的存储单元存取所述的控制信息，使所述的存储单元传送控制信息给对应的扫描测试模块，并用来产生一启动信号通过所述的第一检测单元传送至所述的存储单元以准备进行测量。
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