公开(公告)号：CN118963198A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202410912308.7

申请日：2024-07-09

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  朱学波 ,  徐宝令 ,  王亚海 ,  王尊峰 ,  乔宏志 ,  阎涛 ,  王阳 ,  王兆灿

IPC分类号： G05B19/042 ,  G01R31/28

摘要： 本发明公开了一种实时状态监控与协同测控电路及方法，属于测试技术领域。本发明可以使微波集成电路测试机在实现其测试功能的同时，实时监控其各种工作状态并及时实现交互响应，同时还能实现与不同产线应用差异化相关设备的通信交互和实时协同测控响应，有效解决基于传统方法的微波集成电路测试机无法满足产线场景对于测试实时性以及测控功能的丰富性与交互能力等方面提出更高要求的瓶颈问题，以通用化的方式提供适应量产应用场景的微波集成电路测试机的实时状态监控与协同测控的解决方案，最大限度地满足微波集成电路生产制造综合能力持续提升的相关应用需求和技术要求。

公开(公告)号：CN112051534B

公开(公告)日：2023-08-25

申请号：CN202010895367.X

申请日：2020-08-31

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 王尊峰 ,  郭敏 ,  马景芳 ,  杨保国 ,  年夫顺 ,  许春卿 ,  李文军 ,  梁胜利 ,  张庆龙 ,  姜信诚

IPC分类号： G01R35/00

摘要： 本发明提供了一种提高微波网络测量与校准精度的外置式装置及方法，装置包括控制电路和校准数据存储单元、温度检测电路、定向耦合电桥单元、宽带微波电子同步开关单元和自动单端口电子校准单元；控制电路和校准数据存储单元分别与温度检测电路、宽带微波电子同步开关单元和自动单端口电子校准单元相连。定向耦合电桥单元与宽带微波电子同步开关单元相连，宽带微波电子同步开关单元与自动单端口电子校准单元及测试端口相连。本发明可根据测量需要实时消除或减小矢量网络分析仪在测试过程中，测试电缆或者其它中间设备等组成测试通道的部件由于温度漂移以及重复连接等因素引起的测量误差，是提升矢量网络分析仪测量精度的一种有效手段。

公开(公告)号：CN110412496B

公开(公告)日：2021-05-07

申请号：CN201910688561.8

申请日：2019-07-29

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司 ,  中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 郭敏 ,  王亚海 ,  丁志钊 ,  朱学波 ,  王尊峰 ,  阎涛

IPC分类号： G01R35/00 ,  G01R31/28

摘要： 本公开提供了一种集成电路多参数测试仪的测试功能快速自检电路及方法，包括通道矩阵、信号分析模块和多个测试端口，通道矩阵与多个测试端口适配互联，用于选定测试端口构建相应的自检通道；信号分析模块与通道矩阵通信连接，用于根据通道矩阵构建的自检通道对信号发生与激励类功能电路进行关键特性正常性的自检；由经自检合格的信号发生与激励类的功能电路对所配置的信号接收与分析类功能电路进行关键特性正常性的测试核查；本公开无需再使用外部标准测试仪器设备就可以协同完成多路收发通道的测试功能核查，自检方法简便、经济，测试及应用效率较高，且可在支持测试规模的基础上适配不同配置仪器状态的现场快速自检核查，通用性较强。

公开(公告)号：CN116183973A

公开(公告)日：2023-05-30

申请号：CN202211700778.4

申请日：2022-12-29

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  王亚海 ,  徐宝令 ,  朱学波 ,  郑洪义 ,  阎涛 ,  王阳 ,  王兆灿 ,  王尊峰

IPC分类号： G01R1/04 ,  G01R27/28

摘要： 本发明公开了一种微波集成电路散射参数快速测试评估电路及评估方法，评估电路包括主控计算机、自动化辅助设备、矢量网络分析仪、测试夹具A、测试夹具B和标准微波集成电路；本发明可以满足待测微波集成电路散射参数“即测即得”的快速高效和稳定一致的测试应用需求，并有效降低由于大量定制适配测试夹具的校准件及其相应操作复杂和大运算量的校准与误差修正等所引入的成本、时间、仪器资源方面的资源无效占用，提高测试应用效能；降低测试评估过程中的软硬件资源开销和占用，而且方便将该功能整合融入微波集成电路生产制造的产线综合能力判断中，满足微波集成电路低成本、高效能批量生产制造应用需求和集成测控的技术要求。

公开(公告)号：CN113376505A

公开(公告)日：2021-09-10

申请号：CN202110514050.1

申请日：2021-05-12

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  王亚海 ,  徐宝令 ,  朱学波 ,  阎涛 ,  王尊峰

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。

公开(公告)号：CN117686885A

公开(公告)日：2024-03-12

申请号：CN202311717298.3

申请日：2023-12-14

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  朱学波 ,  徐宝令 ,  王亚海 ,  郑洪义 ,  阎涛 ,  王阳 ,  王兆灿 ,  王尊峰

IPC分类号： G01R31/28 ,  G05B19/042 ,  G06N20/00 ,  G06F18/24 ,  G06F18/214

摘要： 本发明公开了一种微波集成电路的电性能预测和快速初筛检测系统及方法，系统包括夹具、多端口源测量模块、多路多状态模拟控制模块，以及主控单元；夹具用于实现待测微波集成电路的装载，多端口源测量模块用于提供多路直流供电电源，对相应通道的直流特性参数进行测量；多路多状态模拟控制模块用于提供多路模拟工况不同状态的时钟及激励信号，并进行多路状态监测及触发响应与处理；主控单元包含测控软件及预测模型学习训练软件，是整个系统的控制中心。本发明所公开的系统及方法可以一次性同时而非分时地自动完成N个微波集成电路的电性能预测及快速初筛检测，有效解决电性能预测及快速初筛环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。

公开(公告)号：CN116248205A

公开(公告)日：2023-06-09

申请号：CN202211579020.X

申请日：2022-12-06

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 段飞 ,  曹志英 ,  魏连成 ,  赵立军 ,  宋青娥 ,  梁胜利 ,  王尊峰 ,  王振宇 ,  孙宇 ,  秦鹏超 ,  史磊

IPC分类号： H04B17/29

摘要： 本发明公开了一种接收机功率线性度测试装置及方法，该装置包括信号源、单刀双掷射频开关S1和S2、放大器A1，A2和A3、功分器、功率计、程控步进衰减器T1、T2、T3和T4以及被测接收机，所述信号源连接单刀双掷射频开关S1，单刀双掷射频开关S1的第一输出端依次连接放大器A1和程控步进衰减器T1，其第二输出端依次连接放大器A2和程控步进衰减器T2，程控步进衰减器T1、T2分别连接单刀双掷射频开关S2的第一输入端和第二输入端，其输出端连接功分器的输入端，功分器的第一输出端连接功率计，其第二输出端依次连接放大器A3、程控步进衰减器T3、程控步进衰减器T4以及被测接收机。本发明测试精度相比传统的测试方法，测试精度高，测试动态范围大。

公开(公告)号：CN116718897A

公开(公告)日：2023-09-08

申请号：CN202310817791.6

申请日：2023-07-05

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  王亚海 ,  徐宝令 ,  朱学波 ,  高媛 ,  郑洪义 ,  阎涛 ,  王阳 ,  王兆灿 ,  王尊峰

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明公开了一种宽频带微波集成电路测试系统及方法，属于微波集成电路测试技术领域；本发明基于信号发生与测试分析一体化模块与待测试宽频带微波集成电路协同测控的双路相干信号，测试宽频带微波集成电路的源驻波特性，通过主控单元对数字信号处理控制单元、测试适配及路由连接电路、信号发生单元、信号分析单元以及待测试宽频带微波集成电路进行一体协同测控，能够完成对批量待测试宽频带微波集成电路的一次性连接和基于连续扫描模式的源驻波特性自动测试评估，解决了现有技术中存在“相应测试组成与操作复杂等所引入的成本、时间、测试仪器等资源消耗以及效率低下”的问题。

公开(公告)号：CN113376505B

公开(公告)日：2022-06-21

申请号：CN202110514050.1

申请日：2021-05-12

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司

发明人： 郭敏 ,  王亚海 ,  徐宝令 ,  朱学波 ,  阎涛 ,  王尊峰

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明公开了一种适用于微波集成电路电性能快速筛选的检测电路及方法，属于微波测试技术领域。采用本发明提供的方法，在进行微波集成电路电性能快速筛选检测时，只需要预先设置一次性将相关测控状态加载下发给各相关电路单元，根据检测需求提前设定检测结果的判断阈值并装载好同批次待测试的微波集成电路，就可以一次性同时而非分时地自动完成不少于10个微波集成电路的电性能快速筛选检测，有效解决电性能预先筛选环节缺位以及降低电性能最终检测无效工作率的瓶颈问题。本发明提供的方法简便、经济，测试及资源应用效能较高，且可根据应用需求规模进行应用扩展，通用性较强。

公开(公告)号：CN109490737B

公开(公告)日：2021-08-31

申请号：CN201811261293.3

申请日：2018-10-26

申请人： 中电科思仪科技股份有限公司 ,  中国电子科技集团公司第四十一研究所

发明人： 郭敏 ,  丁志钊 ,  王尊峰 ,  朱学波 ,  徐宝令

IPC分类号： G01R31/26 ,  G01R31/265 ,  G01R23/18

摘要： 本公开提供了一种微波半导体器件频率扩展多参数自动测试通用方法及装置，包括一主控单元、若干测试仪器和一测试功能电路；所述主控单元被配置为通过测控总线与各测试仪器和测试功能电路相连；所述测试仪器包括信号发生器、信号/频谱分析仪和矢量网络分析仪，所述测试仪器被配置为接收主控单元命令，并发送相应测试信号至测试功能电路；所述测试功能电路被配置为根据主控单元命令对测试信号进行处理；和以波导形式单次连接被测微波半导体器件，与相应测试仪器协同完成被测微波半导体器件的频率扩展多参数自动测试。