公开(公告)号：CN119619654A

公开(公告)日：2025-03-14

申请号：CN202411659948.8

申请日：2024-11-20

Applicant: 中国航空综合技术研究所

Inventor： 陈宇 ,  游亚飞 ,  边智 ,  张宇 ,  刘泽萌 ,  贾润川 ,  杨昭君

IPC: G01R31/00 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种用于FPGA系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法，具体步骤为：对FPGA系统的辐射环境进行表征；确定FPGA系统在辐射环境下单粒子效应的敏感性；建立FPGA系统在辐射环境下的注量域可靠性模型：将单粒子效应截面σSEE的特性转化为对应的平均无故障注量MFTF，根据平均无故障注量MFTF和辐射场中单位面积上通过的粒子总数Φ，建立各能谱段或LET谱段在给定辐射注量内的FPGA系统可靠度模型。本发明结合物理过程分析和数据驱动的手段，建立注量域可靠性模型，从而提高相关设备在特殊物理环境下的可靠性。

公开(公告)号：CN119598806A

公开(公告)日：2025-03-11

申请号：CN202411688884.4

申请日：2024-11-25

Applicant: 中国航空综合技术研究所

Inventor： 李刚 ,  傅耘 ,  李明 ,  杨昭君 ,  贾润川 ,  刘泽萌 ,  朱蒙

IPC: G06F30/23 ,  G06F30/17 ,  G06T17/20 ,  G06F119/08 ,  G06F119/02 ,  G06F113/26 ,  G06F111/10 ,  G06F111/08

Abstract: 本发明属于金属腐蚀数值模拟分析技术领域，具体为基于元胞腐蚀的航空金属编织导线点云数据实体建模方法，其包括:S1、建立模拟航空金属编织导线腐蚀环境的三维元胞空间；S2、根据三维元胞空间进行导线腐蚀过程仿真建模，确定导线元胞转化、扩散规则及对应的腐蚀和扩散概率；S3、构建导线元胞三维空间点云方程，生成导线网格单元；S4、拼接导线四面体网格单元生成光滑曲面，完成航空金属编织导线点云数据实体化建模。本发明能够将元胞自动机中生成的航空金属编织导线三维离散点转化为在有限元仿真软件中的实体，保留复杂的航空金属编织导线表面形貌，优化从仿真到实体模型转换过程，适用好。

公开(公告)号：CN119086421A

公开(公告)日：2024-12-06

申请号：CN202411293942.3

申请日：2024-09-14

Applicant: 中国航空综合技术研究所

Inventor： 朱蒙 ,  李明 ,  贾润川 ,  杨昭君 ,  杨玉萍 ,  刘剑

IPC: G01N17/00

Abstract: 本发明提供一种密封零件湿热海洋环境实验室加速模拟试验方法，其包括：S1、密封试验件预处理；S2、配置盐溶液；S3、准备酸性介质；S4、进行加速模拟试验；模拟试验包括盐雾试验、温度试验以及交变湿热试验。湿热海洋环境模拟加速试验共计开展多个循环，可根据试验目的进行循环数的增加。试验过程中每次湿热试验结束后或整体加速试验结束后均可选择对密封零件开展性能测试。本发明的试验方法能够更加真实还原密封零件实际服役环境耦合效应，进而能够暴露贴近外场实际使用过程中频发的故障现象，并能够快速准确的进行试验，并实现密封零件多性能参数的综合评估，明确综合环境下密封零件的老化程度，判定密封件是否到达寿命或评估剩余寿命等。

公开(公告)号：CN116125162A

公开(公告)日：2023-05-16

申请号：CN202211544763.3

申请日：2022-12-02

Applicant: 中国航空综合技术研究所 ,  中国兵器工业第五九研究所

Inventor： 陈宇 ,  杨昭君 ,  朱蒙 ,  李明 ,  边智 ,  李刚 ,  贾润川 ,  王家宁 ,  魏小琴

IPC: G01R31/00 ,  G01N17/00 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明提供一种基于腐蚀损伤试验的机载电子产品日历寿命评估方法，包括以下步骤：S1、确定与机载电子产品相匹配的试验模式；S2、确定与机载电子产品实际使用环境相关联的试验参数；试验参数包括加速因子和试验时间；S3、根据步骤S2确定的加速因子和试验时间对步骤S1得到的试验模式进行腐蚀试验；S4、根据腐蚀试验的试验结果对机载电子产品的寿命可靠性进行评估。本发明突破了按照GJB150开展腐蚀试验的局限，通过引入干湿交替、多应力协同、精确控制相对湿度时间占比和试验样品表面潮解时间占比等措施，能够有效保证试验与实际环境腐蚀损伤机制的一致性，利用受试产品用腐蚀材料的典型标准件腐蚀进程速率之比，实现实验室时间与日历寿命相关联。

公开(公告)号：CN115640024A

公开(公告)日：2023-01-24

申请号：CN202211262480.X

申请日：2022-10-14

Applicant: 中国航空综合技术研究所

Inventor： 陈宇 ,  游亚飞 ,  李明 ,  李敏伟 ,  张宇 ,  边智 ,  李刚 ,  杨昭君

IPC: G06F8/65 ,  G06Q10/06 ,  G06F9/50

Abstract: 本发明提供了一种基于程序定期更新的单粒子翻转影响量化指标确定方法，其包括：针对定期更新中央处理器CPU中的指令Cache，将单粒子翻转SEU对电子系统的影响定量表征为单粒子翻转SEU敏感面积，计算程序保持不变时指令Cache输出的错误数，构建采用程序定期更新步骤之后的指令Cache输出的错误数的修正物理模型，获取采用程序定期更新步骤后指令Cache输出的错误数，确定采用程序定期更新步骤后对单粒子翻转SEU影响的量化指标。本发明可实现程序定期更新步骤对减缓单粒子翻转SEU影响效果的定量评估，有力支撑工程实施过程中辐射效应对电子产品影响的定量评估，可有效支撑电子系统可靠性的定量评估，同时其定量评估结果利于适航取证活动的开展。