用于FPGA系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法

    公开(公告)号:CN119619654A

    公开(公告)日:2025-03-14

    申请号:CN202411659948.8

    申请日:2024-11-20

    Abstract: 本发明提供一种用于FPGA系统在辐射中单粒子效应诱发故障率的预测方法,具体步骤为:对FPGA系统的辐射环境进行表征;确定FPGA系统在辐射环境下单粒子效应的敏感性;建立FPGA系统在辐射环境下的注量域可靠性模型:将单粒子效应截面σSEE的特性转化为对应的平均无故障注量MFTF,根据平均无故障注量MFTF和辐射场中单位面积上通过的粒子总数Φ,建立各能谱段或LET谱段在给定辐射注量内的FPGA系统可靠度模型。本发明结合物理过程分析和数据驱动的手段,建立注量域可靠性模型,从而提高相关设备在特殊物理环境下的可靠性。

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