公开(公告)号：CN103645682A

公开(公告)日：2014-03-19

申请号：CN201310568322.1

申请日：2013-11-15

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 王建国 ,  夏泓 ,  朱恒静 ,  张红旗 ,  唐民 ,  张延伟 ,  李海燕 ,  蒲瑞民

IPC: G05B19/418

CPC classification number: Y02P90/02 ,  Y02P90/14

Abstract: 本发明涉及一种元器件生产过程控制方法，用于元器件生产厂全过程识别及控制，形成过程识别文件的方法。该方法基于生产厂PID建设、PID试运行、用户方PID审查、PID固化、PID维护及PID变更要求的总体流程，将元器件生产过程控制分为启动阶段、初步建设阶段、验收阶段及闭环阶段的具体控制阶段。该方法有效解决了元器件生产过程不受控的问题、标准缺乏和管理要求缺乏的问题，提高技术状态稳定性、质量可靠性和产品一致性。

公开(公告)号：CN103699939A

公开(公告)日：2014-04-02

申请号：CN201310570955.6

申请日：2013-11-15

Applicant: 中国空间技术研究院

Inventor： 朱恒静 ,  张莹 ,  李强 ,  张洪伟 ,  李海燕 ,  范晓明

IPC: G06Q10/04 ,  G06Q50/04

CPC classification number: Y02P90/30

Abstract: 本发明涉及一种宇航用元器件应用验证流程的建立方法，包括四个步骤：应用验证工作分析、流程逻辑结构模型建立、优化计算调整和流程复核。应用验证工作分析根据元器件和需求建立应用验证的评价指标体系；流程逻辑结构模型建立基于工作分析的工作分解表，将验证工作项目和子项目及其逻辑关系用单代号网络图表示，建立应用验证流程和相关流程的关联逻辑结构图以及应用验证详细流程的逻辑结构图；优化计算调整基于逻辑结构图和时间参数，得出优化调整后的流程网络图以及相应的工期和关键线路；流程复核是对调整后的网络图，依据建立准则进行复核，对于提出的问题进行反馈和修改，最终确定流程。该方法能有效指导实际的应用验证工作的展开。