一种基于扫频的LTE系统RS平衡确定方法及装置

    公开(公告)号:CN107734525B

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN201610654653.0

    申请日:2016-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于扫频的LTE系统RS平衡确定方法及装置,其中,所述方法包括:确定每一终端的路径传输损耗;根据所述每一终端的路径传输损耗分别校正每一终端自身接收到的参考信号接收功率RSRP0和RSRP1;将所有终端校正后的RSRP0的平均值确定为第一结果值,将所有终端校正后的RSRP1的平均值确定为第二结果值;判断第一结果值与第二结果值的差值的绝对值是否满足第一预设条件;如果第一结果值与第二结果值的差值的绝对值满足第一预设条件,判断秩rank2传输块TB数比例是否满足第二预设条件;如果rank2 TB数比例满足第二预设条件,则确定所述基站天线存在参考信号失衡故障。

    一种基于扫频的LTE系统RS平衡确定方法及装置

    公开(公告)号:CN107734525A

    公开(公告)日:2018-02-23

    申请号:CN201610654653.0

    申请日:2016-08-10

    Abstract: 本发明公开了一种基于扫频的LTE系统RS平衡确定方法及装置,其中,所述方法包括:确定每一终端的路径传输损耗;根据所述每一终端的路径传输损耗分别校正每一终端自身接收到的参考信号接收功率RSRP0和RSRP1;将所有终端校正后的RSRP0的平均值确定为第一结果值,将所有终端校正后的RSRP1的平均值确定为第二结果值;判断第一结果值与第二结果值的差值的绝对值是否满足第一预设条件;如果第一结果值与第二结果值的差值的绝对值满足第一预设条件,判断秩rank2传输块TB数比例是否满足第二预设条件;如果rank2 TB数比例满足第二预设条件,则确定所述基站天线存在参考信号失衡故障。

    一种天线方向角的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN107276691B

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201610219322.4

    申请日:2016-04-08

    Abstract: 本发明实施例公开了一种天线方向角的确定方法,包括:在第一区域内,根据角度级的天线扫频数据,统计每个角度上的采样点的数量和各采样点的信号强度,该天线扫频数据是通过扫描该第一区域得到的;根据每个角度上的采样点的数量,确定M个天线辐射瓣,M大于等于1;根据各采样点的信号强度和每个角度上的采样点的数量,从M个天线辐射瓣中确定出天线辐射主瓣;根据天线辐射主瓣中的采样点的信号强度,确定出天线方向角的角度值。本发明实施例还提供了一种天线方向角的确定装置。

    一种小区过覆盖的分析方法及装置

    公开(公告)号:CN106714189B

    公开(公告)日:2020-02-21

    申请号:CN201510780048.3

    申请日:2015-11-13

    Abstract: 本发明提供一种小区过覆盖的分析方法及装置,涉及无线通信技术领域。该方法包括:获取路测终端在以待测小区作为服务小区时在所有采样点处测量获得的路测数据;根据每个采样点处的路测数据,确定每个采样点与所述待测小区对应的基站之间的距离,并统计以所述采样点为圆心,所述距离为半径的范围内的小区数量,将所述小区数量作为所述采样点的过覆盖指数;根据所述所有采样点的过覆盖指数,判断所述待测小区是否存在过覆盖。本发明的方案通过路测数据的分析,分析小区周边区域的站点分布情况,判断小区覆盖的合理性,从而确定小区是否存在过覆盖,简单易行、高效、直观,提升了准确性。

    一种杂散干扰分析方法及装置

    公开(公告)号:CN105828361B

    公开(公告)日:2019-07-02

    申请号:CN201510007885.2

    申请日:2015-01-05

    Abstract: 本发明提供一种杂散干扰分析方法及装置,涉及无线技术领域。该方法包括:获取小区上报的干扰功率的测量报告;其中所述测量报告包括所述小区下每个物理资源块的上行接收干扰功率和干扰电平;根据每个物理资源块的上行接收干扰功率,确定模拟干扰电平曲线;根据所述模拟干扰电平曲线判断所述小区是否可能存在杂散干扰,在可能存在杂散干扰时,获取所述模拟干扰电平曲线中物理资源块的仿真干扰电平以及所述测量报告中每个物理资源块的干扰电平,得到可决系数;在所述可决系数大于第一阈值时,确定所述小区存在杂散干扰。本发明的方案,解决了现有杂散干扰分析方法中存在的只能定性的反映干扰信号特征,信号强度准确度较低以及成本高等问题。

    一种分析直放站时延色散的方法和装置

    公开(公告)号:CN105323771B

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201410380444.2

    申请日:2014-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种分析直放站时延色散的方法和装置,建立信源小区覆盖模型,计算出信源小区覆盖范围;获取时间提前量TA波峰差值大于第一阈值的直放站,以及这些直放站的位置;如果直放站在信源小区覆盖范围内,则出现由于重叠覆盖导致的时延色散;如果直放站不在信源小区覆盖范围内,则不会出现时延色散。综合分析信源小区覆盖范围与直放站覆盖范围,定位准确率高,采用分析算法判断信源小区下挂的直放站是否出现时延色散问题,简单易行、高效和直观。

    一种天线方向角的确定方法及装置

    公开(公告)号:CN107276691A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201610219322.4

    申请日:2016-04-08

    Abstract: 本发明实施例公开了一种天线方向角的确定方法,包括:在第一区域内,根据角度级的天线扫频数据,统计每个角度上的采样点的数量和各采样点的信号强度,该天线扫频数据是通过扫描该第一区域得到的;根据每个角度上的采样点的数量,确定M个天线辐射瓣,M大于等于1;根据各采样点的信号强度和每个角度上的采样点的数量,从M个天线辐射瓣中确定出天线辐射主瓣;根据天线辐射主瓣中的采样点的信号强度,确定出天线方向角的角度值。本发明实施例还提供了一种天线方向角的确定装置。

    一种基于扫频数据的天线性能分析方法及装置

    公开(公告)号:CN106707041A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201510790569.7

    申请日:2015-11-17

    CPC classification number: G01R29/10

    Abstract: 本发明提供一种基于扫频数据的天线性能分析方法及装置,其中方法包括:获取天线的扫频数据,确定各个扫频数据对应的采样点及其位置,根据采样点的位置,将所有采样点分布在以天线位置为圆心的圆形区域内;将圆形区域划分成多个具有预定大小圆心角的扇形,根据圆形区域内分布的采样点,确定圆形区域内存在的辐射叶,其中,每个辐射叶由一个或多个连续的扇形组成,辐射叶的每个扇形中存在有至少一个采样点,且与辐射叶相邻的扇形内不存在采样点;针对每个辐射叶,根据该辐射叶内的采样点的信号强度,确定天线的波瓣及对应的辐射方向;根据天线的各个波瓣的扫频数据,对天线的性能进行分析。本发明实施例简单易行,且具有高效和直观的特点。

    一种定位弱覆盖直放站的方法和装置

    公开(公告)号:CN105323846A

    公开(公告)日:2016-02-10

    申请号:CN201410380446.1

    申请日:2014-08-04

    Abstract: 本发明实施例提供一种定位弱覆盖直放站的方法和装置,方法包括质差分析步骤:采用质差采样点定位小区的质差直放站;弱覆盖分析步骤:采用弱覆盖采样点定位小区的弱覆盖直放站;定位步骤:对弱覆盖采样点和质差采样点的小区时间提前量TA进行拟合分析得到弱覆盖和质差之间的相关系数r,相关系数r满足阈值所对应的直放站是弱覆盖质差直放站。采用差异化的特殊MR分析的定位直放站弱覆盖质差,通过差异化MR统计分析,智能辨别小区下挂的弱覆盖直放站与非弱覆盖直放站,从而精确定位直放站弱覆盖导致的质差。

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