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公开(公告)号：CN118117104A
公开(公告)日：2024-05-31
申请号：CN202211514388.8
申请日：2022-11-29
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: H01M4/92 , C01B32/168 , B22F1/054 , C23C14/35 , C23C14/18
Abstract: 本发明涉及碳负载纳米催化剂领域，具体涉及一种碳纳米管负载纳米立方体铂或铂铁合金颗粒催化剂及其制备方法。由碳纳米管薄膜作为基底，呈现立方体形状的铂或铂铁合金纳米颗粒均匀沉积在碳纳米管薄膜表面，该催化剂纳米颗粒暴露的晶体学面、不同的成分比和不同大小的晶粒尺寸与催化活性和选择性联系密切。利用简单地磁控溅射技术，以碳纳米管作为催化剂碳载体，使用单铂靶溅射或者铂和铁双靶共溅射，调控相关工艺参数，制备了疏松多孔、颗粒间距分布均匀、微观形貌有序的的小尺度复合纳米催化剂材料。本发明成功实现对铂和铂铁合金颗粒的成分、晶粒尺寸以及形貌进行协同调控，减少运行过程中发生的铂和铂基合金纳米颗粒从碳载体上的脱落和团聚。
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公开(公告)号：CN107452585B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN201610374405.0
申请日：2016-05-30
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 本发明涉及材料测试技术领域，具体为一种原位透射电镜仿真环境样品杆系统及其使用方法。该系统包括：气密圆形连接器、外围设备、样品杆、计算机、密封腔室、外场微型芯片，具体结构如下：样品杆的一端设置气密圆形连接器，样品杆的另一端设置密封腔室，密封腔室内设置外场微型芯片，外围设备输出端通过管路、气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室，计算机输出端的线路穿过气密圆形连接器和样品杆内腔连至密封腔室。本发明最大限度地实现了在复杂气态/液态仿真环境中材料的宏观性能与气/液/固界面反应机制的测量与研究，广泛适用于探究各种高温、低温化学合成反应、材料相变、电化学反应、低温生物化学反应等。
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公开(公告)号：CN109839517B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN201711218000.9
申请日：2017-11-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01Q30/20
Abstract: 本发明涉及材料测试技术，具体为一种扫描电镜、聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置。该装置包括：用于连接透射电镜样品杆和样品舱侧壁的高真空圆形气密法兰和波纹管、用于承载透射电镜样品杆的支架结构、用于实现透射电镜样品杆三维空间运动的高精度位移器、用于控制位移器的步进电机和电路单元等部分，透射电镜样品杆承载于支架结构上，通过高真空圆形气密法兰与扫描电镜、聚焦离子束电镜样品舱侧壁相连接，高精度位移器与透射电镜样品杆的末端相连，用于控制透射电镜样品杆在样品舱内的三维空间位置。本发明极大地方便样品的加工和显微结构分析，提高工作效率，广泛适用于各种型号的电镜样品杆和扫描电镜、聚焦离子束电镜连接。
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公开(公告)号：CN114551710A
公开(公告)日：2022-05-27
申请号：CN202011349524.3
申请日：2020-11-26
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: H01L35/34
Abstract: 本发明涉及半导体器件领域，具体涉及一种用于集成微型热电换能器件的装置与方法。该装置的减震支撑基座设有大理石支架和减震平台，大理石支架放置在减震平台上；显微识别定位系统固定在大理石支架和减震平台上，转移吸附系统固定在大理石支架上，供料器、基板样品台和控制器固定在减震底座，热电粒子和上电极基板放置在供料器上，下电极基板固定在基板样品台上；控制器通过数据线与显微识别定位系统、转移吸附系统和基板样品台的互连，并实现各部分的集中控制和联动过程。本发明可以成功将小尺寸的热电粒子以较高的定位精度转移到下电极基板上，实现P型和N型热电粒子的图形化排列，进而实现热电器件的电串联和热并联。
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公开(公告)号：CN114235188A
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN202111451174.6
申请日：2021-12-01
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 本发明的一种微型、柔性温度和压力复合传感器包括：压力传感单元、温度传感单元、支撑单元、弹性硅胶顶板和弹性硅胶底板；支撑单元由支撑底板和多个支撑立柱组成，弹性硅胶底板上设有通孔，弹性硅胶底板固定在支撑底板上，多个支撑立柱从对应的通孔中穿出；弹性硅胶底板的上方设置弹性硅胶顶板，温度传感单元位于弹性硅胶底板和弹性硅胶顶板间，压力传感单元设置于支撑立柱和弹性硅胶顶板间；弹性硅胶顶板的底面设有第一图案化电极层，弹性硅胶顶板通过第一图案化电极层分别与压力传感单元的顶部、温度传感单元的顶部连接；温度传感单元的底部通过第二图案化电极层连接。该复合传感器兼具柔性和传感功能，可应用在医疗健康、人机交互等领域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113270532A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202010095669.9
申请日：2020-02-17
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 本发明涉及半导体器件领域，具体为一种微型热电器件及其制作方法。该热电器件包括底部基板、顶部基板和热电单元，热电单元位于底部基板和顶部基板之间，底部基板通过其上的电极层和焊接涂层与热电单元的底部连接，顶部基板通过其上的电极层和焊接涂层与热电单元的顶部连接。利用掩膜沉积技术在底部基板和顶部基板上沉积图案化的电极层和焊接涂层，将热电单元模板、N型或P型热电片依次叠于底部基板上，利用汇聚飞秒激光对其切割，使N型或P型热电单元落入模板上的定位孔洞内，与焊接涂层接触；盖上顶部基板，通过加热实现热电器件的电连通。该热电器件将模板法和飞秒激光微纳精准加工技术相结合，可以实现高集成密度的微型热电器件。
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公开(公告)号：CN112863722A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN201911185896.4
申请日：2019-11-27
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G21F1/12 , G21C21/02 , C23C14/50 , C23C16/458 , C23C14/35 , C23C14/02 , C23C14/18 , C23C14/58 , C23C16/40 , C23C16/56 , C23C16/455 , C23C16/26 , C23C16/48
Abstract: 本发明属于复合材料和抗辐照损伤材料领域，具体为一种包壳材料/纳米晶/碳纳米管复合结构材料及其制备方法。该复合材料包括：自支撑CNTs为基体，在其表面均匀附着纳米晶及高温热稳定的包壳材料。该制备方法包括：将CNTs基底在20至800℃温度下，利用物理或化学气相沉积方法均匀沉积纳米晶；再利用物理或化学气相沉积、裂解有机物等技术沉积高温稳定的非晶碳或金属氧化物。该复合材料具有高密度纳米线结构，较高的电导率，良好的抗辐照性能、高温热稳定性、化学稳定性和柔性弯曲性能可大面积制备，铺展在具有任意曲率的物体表面。本发明用于中高温度下工作的电子器件和传感器材料等，也能作为保护层材料应用于辐照损伤领域。
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公开(公告)号：CN109837514B
公开(公告)日：2020-10-16
申请号：CN201711219639.9
申请日：2017-11-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
Abstract: 本发明涉及功能薄膜材料领域，具体为一种纳米尺度多孔硒(Se)/碲(Te)化物薄膜材料及其制备方法，该多孔薄膜材料作为微型热电能源器件、微型传感器等方面的应用。该多孔薄膜材料为均匀沉积在金属、半导体或绝缘体光滑基底表面上的硒/碲化物薄膜层，薄膜中含有高密度均匀分布的纳米尺度孔隙，纳米孔隙呈现为规则的几何多面体结构；孔隙表面为亚纳米级粗糙度，且孔隙与薄膜基体间存在晶体学取向关系。利用Se/Te元素低熔点、易扩散和聚集长大的特性，合成纳米尺度多孔结构。在薄膜面外方向，Te(Se)元素含量呈过饱和连续递增分布，通过退火处理方式成功制备纳米孔隙含量和大小分布连续可调控的Bi2Te3(Sb2Se3)薄膜。
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公开(公告)号：CN109839517A
公开(公告)日：2019-06-04
申请号：CN201711218000.9
申请日：2017-11-28
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01Q30/20
Abstract: 本发明涉及材料测试技术，具体为一种扫描电镜、聚焦离子束电镜连接透射电镜样品杆的转换装置。该装置包括：用于连接透射电镜样品杆和样品舱侧壁的高真空圆形气密法兰和波纹管、用于承载透射电镜样品杆的支架结构、用于实现透射电镜样品杆三维空间运动的高精度位移器、用于控制位移器的步进电机和电路单元等部分，透射电镜样品杆承载于支架结构上，通过高真空圆形气密法兰与扫描电镜、聚焦离子束电镜样品舱侧壁相连接，高精度位移器与透射电镜样品杆的末端相连，用于控制透射电镜样品杆在样品舱内的三维空间位置。本发明极大地方便样品的加工和显微结构分析，提高工作效率，广泛适用于各种型号的电镜样品杆和扫描电镜、聚焦离子束电镜连接。
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公开(公告)号：CN109444214A
公开(公告)日：2019-03-08
申请号：CN201811451118.0
申请日：2018-11-30
Applicant: 中国科学院金属研究所
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及材料性能表征领域，具体涉及一种利用稳态法测量薄膜导热性能的装置。该装置包括：样品分析室、真空获得系统、温控系统、信号监测与自动记录系统，样品放在样品分析室内的测试芯片上，样品分析室具有真空密封的功能；真空获得系统与样品分析室相连，为样品提供真空的测试环境；温控系统对测试芯片进行加热、制冷或者保温等操作，为样品提供变温测试环境；信号监测与自动记录系统与温控系统相连，进行温度的自动设定和记录。本发明对薄膜材料的面内热导率进行精确的测量，尤其对于那些因为样品尺寸太小或透光性高等原因，而无法使用其他商用电脑器进行导热性能测试时，采用本发明实验仪器可以准确、快速地获得其导热性能。
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