芯片接口及其测试方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117827560A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311700750.5

    申请日:2023-12-12

    Abstract: 提供一种芯片接口及其测试方法,该芯片接口包括:输入端口,用于接收来自外部测试路径的伪随机二进制PRBS测试序列;测试序列对比模块,用于将所述输入端口接收的所述PRBS测试序列与所述测试序列对比模块中的标准序列进行对比,并输出比较结果;测试序列生成模块,用于生成PRBS测试序列;输出端口,用于将所述测试序列生成模块生成的PRBS测试序列输出至外部测试路径。

Patent Agency Ranking