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1.

发明公开
存储器内建自修复系统及自修复方法无效

公开(公告)号：CN101329918A

公开(公告)日：2008-12-24

申请号：CN200810117443.3

申请日：2008-07-30

Applicant: 中国科学院计算技术研究所

Inventor： 谢远江 , 王达 , 胡瑜 , 李晓维

IPC: G11C29/44

Abstract: 本发明提供一种存储器内建自修复系统，包括内建自测试电路、内建自诊断电路、内建自修复电路和冗余行/列；其特征在于，所述内建自修复电路包括字修复电路，所述字修复电路含有冗余内容可寻址存储器，所述冗余内容可寻址存储器专用于修复主存储器的单元故障；所述冗余行/列专用于修复主存储器的译码故障。本发明还提供了相应的内建自修复方法。本发明的优势包括：细化了冗余资源的粒度，提高了存储器冗余资源的利用率；通过避免访问存在缺陷的故障单元，提高存储器修复后的可靠性；并且故障诊断和冗余分配算法简单易实现；充分利用冗余资源，具有更好的修复效果。

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