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公开(公告)号：CN101055558B
公开(公告)日：2010-10-06
申请号：CN200610072168.9
申请日：2006-04-14
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于质谱数据中呈现的同位素模式来提取质谱中有效的离子单同位素峰的方法。该方法步骤包括：1)确定质谱的噪音基线；2)有效峰的特征选取；3)计算谱峰的由步骤2)中所选择的各个特征对应的取值；4)从序列已知的质谱中，挑选样本进行学习，确定噪音、离子谱峰等不同类别的谱峰在上述特征上的表现，确定区分各类别谱峰的特征值的阈值，确定分类的规则；5)根据所学习到的规则对所有的质谱中的谱峰进行处理，挑选出离子的单同位素峰。本发明通过定义同位素模式概念并采用准确的公式计算离子的同位素模式的值来判断谱峰是否为有效峰，准确率更高，采用本方法极大地提高鉴定软件的搜索速度以及鉴定的可靠性。
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公开(公告)号：CN101055559A
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：CN200610072169.3
申请日：2006-04-14
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于统计方法的质谱中噪音基线识别方法。该方法，包括步骤：1)按照谱峰强度分布性质将质谱谱峰至少分成两类；2)对上一步骤中的不同类别的谱峰分别计算其强度的分布参数；3)用谱峰类别的强度分布参数来刻画广义的噪音基线；4)对质谱中的每个谱峰，计算其与噪音基线的距离来判断其是否为有效的离子谱峰。本发明通过统计分类的方法，更能反映质谱噪音峰在强度上的真实分布，通过一个广义的噪音基线来描述质谱中的噪音的分布，形式灵活，提高了鉴定软件的搜索速度。
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公开(公告)号：CN101055558A
公开(公告)日：2007-10-17
申请号：CN200610072168.9
申请日：2006-04-14
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于质谱数据中呈现的同位素模式来提取质谱中有效的离子单同位素峰的方法。该方法步骤包括：1)确定质谱的噪音基线；2)有效峰的特征选取；3)计算谱峰的由步骤2)中所选择的各个特征对应的取值；4)从序列已知的质谱中，挑选样本进行学习，确定噪音、离子谱峰等不同类别的谱峰在上述特征上的表现，确定区分各类别谱峰的特征值的阈值，确定分类的规则；5)根据所学习到的规则对所有的质谱中的谱峰进行处理，挑选出离子的单同位素峰。本发明通过定义同位素模式概念并采用准确的公式计算离子的同位素模式的值来判断谱峰是否为有效峰，准确率更高，采用本方法极大地提高鉴定软件的搜索速度以及鉴定的可靠性。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101196498A
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200610164852.X
申请日：2006-12-06
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01N30/72
Abstract: 本发明公开了一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤一，将物质的测量误差分解为系统误差与随机误差；步骤二，在质谱中计算样本点的测量误差，样本点包括质谱中的离子、离子之和或者离子之差；步骤三，使随机误差的目标函数取最值来确定系统误差分布函数的参数取值。所述在质谱中计算样本点的测量误差是通过预测离子分子式的方法获得。本发明的优点是：不需要额外的内标或外标参考，不需要进行预先的鉴定；既可以预测单个质谱的误差情况，也可以预测整个样品的所有质谱的误差分布情况；预测准确度高。
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公开(公告)号：CN1773276A
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：CN200410090806.0
申请日：2004-11-12
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法，该方法从串联质谱和从各元素的原子个数待定的通用分子式中分别获取碎片离子的单同位素的质量以及各同位素谱峰相对于单同位素的相对丰度；将分别获取的质量和相对丰度做匹配以获得所述通用分子式中待定的各元素的原子个数的非负整数解，得到碎片离子的分子式。本发明的方法利用串联质谱中碎片离子的同位素谱峰信息，通过串联质谱碎片离子的同位素谱峰的模式计算此碎片离子对应的分子式。本发明的方法可以提供碎片离子准确的分子式信息，可对鉴定多肽序列的数据库搜索方法提供的候选序列进行鉴别；以及为求解多肽序列的de novo方法产生高可靠候选序列提供依据。
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公开(公告)号：CN101196498B
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：CN200610164852.X
申请日：2006-12-06
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G01N30/72
Abstract: 本发明公开了一种质谱质量测量误差的预测方法，包括如下步骤：步骤一，将物质的测量误差分解为系统误差与随机误差；步骤二，在质谱中计算样本点的测量误差，样本点包括质谱中的离子、离子之和或者离子之差；步骤三，使随机误差的目标函数取最值来确定系统误差分布函数的参数取值。所述在质谱中计算样本点的测量误差是通过预测离子分子式的方法获得。本发明的优点是：不需要额外的内标或外标参考，不需要进行预先的鉴定；既可以预测单个质谱的误差情况，也可以预测整个样品的所有质谱的误差分布情况；预测准确度高。
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公开(公告)号：CN100483394C
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200610072169.3
申请日：2006-04-14
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于统计方法的质谱中噪音基线识别方法。该方法，包括步骤：1)按照谱峰强度分布性质将质谱谱峰至少分成两类；2)对上一步骤中的不同类别的谱峰分别计算其强度的分布参数；3)用谱峰类别的强度分布参数来刻画广义的噪音基线；4)对质谱中的每个谱峰，计算其与噪音基线的距离来判断其是否为有效的离子谱峰。本发明通过统计分类的方法，更能反映质谱噪音峰在强度上的真实分布，通过一个广义的噪音基线来描述质谱中的噪音的分布，形式灵活，提高了鉴定软件的搜索速度。
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公开(公告)号：CN100390537C
公开(公告)日：2008-05-28
申请号：CN200410090806.0
申请日：2004-11-12
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种用串联质谱中碎片离子的同位素峰预测离子分子式的方法，该方法从串联质谱和从各元素的原子个数待定的通用分子式中分别获取碎片离子的单同位素的质量以及各同位素谱峰相对于单同位素的相对丰度；将分别获取的质量和相对丰度做匹配以获得所述通用分子式中待定的各元素的原子个数的非负整数解，得到碎片离子的分子式。本发明的方法利用串联质谱中碎片离子的同位素谱峰信息，通过串联质谱碎片离子的同位素谱峰的模式计算此碎片离子对应的分子式。本发明的方法可以提供碎片离子准确的分子式信息，可对鉴定多肽序列的数据库搜索方法提供的候选序列进行鉴别；以及为求解多肽序列的de novo方法产生高可靠候选序列提供依据。
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