公开(公告)号：CN108551555B

公开(公告)日：2019-12-31

申请号：CN201810470177.6

申请日：2018-05-16

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 孔亮 ,  闫鹏 ,  温志刚 ,  武琪敬 ,  刘永征 ,  刘文龙 ,  周冠

IPC: H04N5/235 ,  H04N5/353

Abstract: 本发明涉及一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法。该方法实现了CMOS相机的自动曝光功能的快速收敛，其主要步骤包括：【1】在光照固定的情况下，建立CMOS探测器中图像灰度值与曝光时间档位的数学关系，并将该数学关系输入至工业相机内；【2】确定图像的参考灰度值D0；【3】确定当前曝光时间下的图像灰度值D1；【4】确定正确的自动曝光时间档位E0。

公开(公告)号：CN105157836A

公开(公告)日：2015-12-16

申请号：CN201510263599.2

申请日：2015-05-21

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 于涛 ,  张周锋 ,  胡炳樑 ,  李立英 ,  魏儒义 ,  武琪敬

IPC: G01J3/447

Abstract: 本发明提供一种偏振态同步获取的光谱成像装置及其方法，具有较高的能量利用率和实时性，且装置中不存在运动部件，具有非常好的稳定性。该偏振光谱成像装置，主要包括沿光路依次设置的前置光学系统、SAGNAC干涉仪、2X2傅氏镜阵列、偏振膜片以及探测器组件，目标光经过前置光学系统进入SAGNAC干涉仪，在SAGNAC干涉仪的分束面上产生透反比各为50％的两束光，从SAGNAC干涉仪出射的光束再经过2X2傅氏镜阵列、偏振膜片后，在探测器组件的感光面上产生干涉条纹；其中，偏振膜片对应于2X2傅氏镜阵列配置为四个不同偏振态的区域。

公开(公告)号：CN115855877A

公开(公告)日：2023-03-28

申请号：CN202211572115.9

申请日：2022-12-08

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 王鹏冲 ,  党文政 ,  张宏建 ,  武琪敬

IPC: G01N21/41 ,  G01N21/45 ,  G01N21/01

Abstract: 本发明为解决现有针对液体折射率的测量方法，存在测量精度不高，所需光学元件的成本较高，测量计算过程的公式复杂且误差较大，测量范围有限，适用范围有限等技术问题，而提供一种基于静态实体大量程液体折射率测量仪及测量方法。该测量仪包括光源以及沿光路依次设置的前置光学准直系统、静态干涉仪系统、样品池、傅里叶变换物镜、面阵探测器；光源出射光经前置光学准直系统压缩准直后垂直入射至静态干涉仪系统，形成两束带有横向剪切量的平行光束；分束后的反射光入射至样品池，与透射光一起入射至傅里叶变换物镜，而后聚焦到面阵探测器的焦面上形成干涉条纹，在样品池中加注被测液体引起干涉条纹偏移，通过偏移量实现大量程液体折射率的测量。

公开(公告)号：CN108551555A

公开(公告)日：2018-09-18

申请号：CN201810470177.6

申请日：2018-05-16

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 孔亮 ,  闫鹏 ,  温志刚 ,  武琪敬 ,  刘永征 ,  刘文龙 ,  周冠

IPC: H04N5/235 ,  H04N5/353

Abstract: 本发明涉及一种使用CMOS探测器的工业相机的自动曝光方法。该方法实现了CMOS相机的自动曝光功能的快速收敛，其主要步骤包括：【1】在光照固定的情况下，建立CMOS探测器中图像灰度值与曝光时间档位的数学关系，并将该数学关系输入至工业相机内；【2】确定图像的参考灰度值D0；【3】确定当前曝光时间下的图像灰度值D1；【4】确定正确的自动曝光时间档位E0。

公开(公告)号：CN105157836B

公开(公告)日：2017-09-29

申请号：CN201510263599.2

申请日：2015-05-21

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 于涛 ,  张周锋 ,  胡炳樑 ,  李立英 ,  魏儒义 ,  武琪敬

IPC: G01J3/447

Abstract: 本发明提供一种偏振态同步获取的光谱成像装置及其方法，具有较高的能量利用率和实时性，且装置中不存在运动部件，具有非常好的稳定性。该偏振光谱成像装置，主要包括沿光路依次设置的前置光学系统、SAGNAC干涉仪、2X2傅氏镜阵列、偏振膜片以及探测器组件，目标光经过前置光学系统进入SAGNAC干涉仪，在SAGNAC干涉仪的分束面上产生透反比各为50％的两束光，从SAGNAC干涉仪出射的光束再经过2X2傅氏镜阵列、偏振膜片后，在探测器组件的感光面上产生干涉条纹；其中，偏振膜片对应于2X2傅氏镜阵列配置为四个不同偏振态的区域。

公开(公告)号：CN204831550U

公开(公告)日：2015-12-02

申请号：CN201520333611.8

申请日：2015-05-21

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 于涛 ,  张周锋 ,  胡炳樑 ,  李立英 ,  魏儒义 ,  武琪敬

IPC: G01J3/447

Abstract: 本实用新型提供一种偏振态同步获取的光谱成像装置，具有较高的能量利用率和实时性，且装置中不存在运动部件，具有非常好的稳定性。该偏振光谱成像装置，主要包括沿光路依次设置的前置光学系统、SAGNAC干涉仪、2X2傅氏镜阵列、偏振膜片以及探测器组件，目标光经过前置光学系统进入SAGNAC干涉仪，在SAGNAC干涉仪的分束面上产生透反比各为50％的两束光，从SAGNAC干涉仪出射的光束再经过2X2傅氏镜阵列、偏振膜片后，在探测器组件的感光面上产生干涉条纹；其中，偏振膜片对应于2X2傅氏镜阵列配置为四个不同偏振态的区域。