一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统

    公开(公告)号:CN103245486A

    公开(公告)日:2013-08-14

    申请号:CN201310151121.1

    申请日:2013-04-26

    Inventor: 陈伟 李超 潘永成

    CPC classification number: Y02P90/02

    Abstract: 本发明公开了一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,包括服务器,所述服务器通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块,所述工业控制模块通过LVDS低压差分接口连接n个激光器控制系统模块,所述激光器控制系统模块连接散热系统,所述激光器控制系统模块包括电流驱动模块,所述电流驱动模块连接激光器夹具和系统控制及数据采集模块。本发明适用于要求通道数量多、封装类型灵活多样的QCW半导体激光器做寿命测试下的参数监测方法及其设备,可以实现同时对2000台以上不同类型的半导体激光器做老化寿命测试。

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