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公开(公告)号:CN103245486A
公开(公告)日:2013-08-14
申请号:CN201310151121.1
申请日:2013-04-26
Applicant: 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所
IPC: G01M11/00 , G05B19/418 , G05B19/042
CPC classification number: Y02P90/02
Abstract: 本发明公开了一种QCW半导体激光器老化寿命测试系统,包括服务器,所述服务器通过TCP/IP1000M以太网连接工业控制模块,所述工业控制模块通过LVDS低压差分接口连接n个激光器控制系统模块,所述激光器控制系统模块连接散热系统,所述激光器控制系统模块包括电流驱动模块,所述电流驱动模块连接激光器夹具和系统控制及数据采集模块。本发明适用于要求通道数量多、封装类型灵活多样的QCW半导体激光器做寿命测试下的参数监测方法及其设备,可以实现同时对2000台以上不同类型的半导体激光器做老化寿命测试。