一种光学表面间距非接触式测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108398098B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN201810447356.8

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本发明属于光学测量技术领域,具体涉及一种光学表面间距非接触式测量装置和方法,本发明通过扫频光学相干层析(SSOCT)原理进行光学间隔非接触式测量,单次测量深度可达数十毫米,对于大部分的光学系统可以一次探测完成多个光学表面同时测量,配合参考臂移动进行分段式测量实现大量程,且测量精度完全取决于系统轴向分辨率;本发明还进一步优化了测量光路,在可调焦测量臂增加调焦模组,根据样品参数选择合适的聚焦光路,可以更好的收集各光学表面的反射光信号,提高干涉信号强度;在可位移参考臂中增加消色差透镜,可调焦测量臂的调焦模组和可位移参考臂的透镜组都是消色差透镜,有利于进一步提高测量精度。

    一种光学表面间距非接触式测量装置和方法

    公开(公告)号:CN108398098A

    公开(公告)日:2018-08-14

    申请号:CN201810447356.8

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本发明属于光学测量技术领域,具体涉及一种光学表面间距非接触式测量装置和方法,本发明通过扫频光学相干层析(SSOCT)原理进行光学间隔非接触式测量,单次测量深度可达数十毫米,对于大部分的光学系统可以一次探测完成多个光学表面同时测量,配合参考臂移动进行分段式测量实现大量程,且测量精度完全取决于系统轴向分辨率;本发明还进一步优化了测量光路,在可调焦测量臂增加调焦模组,根据样品参数选择合适的聚焦光路,可以更好的收集各光学表面的反射光信号,提高干涉信号强度;在可位移参考臂中增加消色差透镜,可调焦测量臂的调焦模组和可位移参考臂的透镜组都是消色差透镜,有利于进一步提高测量精度。

    一种光学表面间距非接触式测量装置

    公开(公告)号:CN208155267U

    公开(公告)日:2018-11-27

    申请号:CN201820699941.2

    申请日:2018-05-11

    Abstract: 本实用新型属于光学测量技术领域,具体涉及一种光学表面间距非接触式测量装置,本实用新型通过扫频光学相干层析(SSOCT)原理进行光学间隔非接触式测量,单次测量深度可达数十毫米,对于大部分的光学系统可以一次探测完成多个光学表面同时测量,配合参考臂移动进行分段式测量实现大量程,且测量精度完全取决于系统轴向分辨率;本实用新型还进一步优化了测量光路,在可调焦测量臂增加调焦模组,根据样品参数选择合适的聚焦光路,可以更好的收集各光学表面的反射光信号,提高干涉信号强度;在可位移参考臂中增加消色差透镜,可调焦测量臂的调焦模组和可位移参考臂的透镜组都是消色差透镜,有利于进一步提高测量精度。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

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