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公开(公告)号：CN103513164B
公开(公告)日：2016-02-03
申请号：CN201210213708.6
申请日：2012-06-25
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明公开了一种对速调管放电能量瞬时值和累积值的监测方法，是通过对速调管发生打火时放电过电流波形峰值、脉冲宽度和打火次数的采集和综合逻辑处理来判断速调管发生打火时的瞬时放电能量和累积放电能量的大小。通过放电能量大小控制加载速调管上脉冲高压的持续时间，重而可以在速调管安全防护的前提下充分的利用放电能量去除掉速调管内部的金属毛刺，达到提高速调管耐压测试效率的目的。本发明尤其适合利用线型脉冲调制器测试速调管的情况，也可以推广到有放电能量限制措施的其他类型的速调管、行波管和回旋管等真空器件的测试设备中。
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公开(公告)号：CN101706549A
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200910082794.X
申请日：2009-04-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01R31/25
摘要： 本发明公开了一种预测多注速调管存储故障的方法，涉及电真空器件技术，是对存放40～45天的无离子泵多注速调管的阴极发射特性进行测量，按取样时间间隔15秒纪录初始3分钟内阴极发射电流值，绘出阴极发射电流值随时间变化的曲线，若阴极发射电流值随时间的变化曲线出现先下降而后上升的现象，并且下降的比例超过额定值的10％，则可预测该器件经过半年以上的存放后，出现存储故障的概率大于60％。本发明方法适合不带有离子泵的多注速调管，也可推广到无离子泵速调管、无离子泵行波管等其他无离子泵微波电真空器件。
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公开(公告)号：CN103513164A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201210213708.6
申请日：2012-06-25
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明公开了一种对速调管放电能量瞬时值和累积值的监测方法，是通过对速调管发生打火时放电过电流波形峰值、脉冲宽度和打火次数的采集和综合逻辑处理来判断速调管发生打火时的瞬时放电能量和累积放电能量的大小。通过放电能量大小控制加载速调管上脉冲高压的持续时间，重而可以在速调管安全防护的前提下充分的利用放电能量去除掉速调管内部的金属毛刺，达到提高速调管耐压测试效率的目的。本发明尤其适合利用线型脉冲调制器测试速调管的情况，也可以推广到有放电能量限制措施的其他类型的速调管、行波管和回旋管等真空器件的测试设备中。
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公开(公告)号：CN103368420A
公开(公告)日：2013-10-23
申请号：CN201210103614.3
申请日：2012-04-10
申请人： 中国科学院电子学研究所
摘要： 本发明公开了一种大功率微波器件测试电源，用于输出微波器件测试所需的稳定直流高压，该电路包括依次连接的升压电路、高频整流电路和高压取样电路，以及高频逆变电路和高频控制电路，所述高压取样电路用于对所述电源的输出电压进行采样，向所述高频控制电路输出一个高压采样电压；所述高频逆变电路用于产生高频交流信号，并输送给所述升压电路；所述高频控制电路用于接收所述高压采样电压，根据所述高压采样电样生成一个控制信号来调节高频逆变电路，使电源的输出稳定在设定值。本发明能够提供稳定的直流电压，并且具有较高的效率。
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公开(公告)号：CN101706549B
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：CN200910082794.X
申请日：2009-04-29
申请人： 中国科学院电子学研究所
IPC分类号： G01R31/25
摘要： 本发明公开了一种预测多注速调管存储故障的方法，涉及电真空器件技术，是对存放40～45天的无离子泵多注速调管的阴极发射特性进行测量，按取样时间间隔15秒记录初始3分钟内阴极发射电流值，绘出阴极发射电流值随时间变化的曲线，若阴极发射电流值随时间的变化曲线出现先下降而后上升的现象，并且下降的比例超过额定值的10％，则可预测该器件经过半年以上的存放后，出现存储故障的概率大于60％。本发明方法适合不带有离子泵的多注速调管，也可推广到无离子泵速调管、无离子泵行波管等其他无离子泵微波电真空器件。
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