一种P型碳纳米管场效应晶体管的抗总剂量辐射加固方法

    公开(公告)号:CN118055625A

    公开(公告)日:2024-05-17

    申请号:CN202410193346.1

    申请日:2024-02-21

    Abstract: 本发明提供一种P型碳纳米管场效应晶体管的抗总剂量辐射加固方法,主要解决现有加固技术无法兼顾低成本与高性能的技术问题。该方法包括以下步骤:【1】试验样品选择;【2】辐照前参数测试;【3】总剂量辐照试验;【4】辐照后参数测试;【5】重复步骤【3】与步骤【4】,获取多个辐照后的转移特性曲线;【6】建立试验样品辐射损伤敏感度与背栅电压的映射关系;【7】获取P型碳纳米管场效应晶体管的最佳背栅电压,将该最佳背栅电压赋予该类晶体管的背栅端,即可实现该类晶体管的抗总剂量辐射加固。该方法的优势在于无需改变制造工艺条件以及版图设计,即可实现碳纳米管场效应晶体管的低成本抗总剂量加固。

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