公开(公告)号：CN119438836A

公开(公告)日：2025-02-14

申请号：CN202310945119.5

申请日：2023-07-28

Applicant: 中国科学院微小卫星创新研究院 ,  上海微小卫星工程中心

Inventor： 蔡毓龙 ,  崔帅 ,  衡婷 ,  卢健 ,  郭军 ,  张勇 ,  张冬冬

IPC: G01R31/26 ,  G05B19/04

Abstract: 本申请提供了一种用于功率器件的空间单粒子失效的评估系统，包括：多功能测试板、电源偏置模块和远程控制器，其中，多功能测试板上包括可扩展的功率器件接口，用于连接多种不同类型的待测试功率器件；电源偏置模块与多功能测试板连接，用于向待测试功率器件提供偏置电压和监测待测试功率器件的电流特性；远程控制器与电源偏置模块连接，用于设置对应于待测试功率器件的偏置电压，控制电源偏置模块提供偏置电压，以及获得电流特性，并根据偏置电压和电流特性来评估待测试功率器件的空间单粒子失效；其中，多功能测试板和电源偏置模块设置在空间单粒子辐射环境中，远程控制器设置在空间单粒子辐射环境以外。

公开(公告)号：CN117909145A

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202311652431.1

申请日：2023-12-05

Applicant: 中国科学院微小卫星创新研究院 ,  上海微小卫星工程中心

Inventor： 蔡毓龙 ,  吴炎来 ,  张冬冬 ,  卢健 ,  卞泽宇

IPC: G06F11/22 ,  G06N3/063 ,  G06N3/08 ,  G06N5/04 ,  G01R31/302 ,  G01R31/305

Abstract: 本发明公开了AI芯片单粒子翻转影响评估方法和系统，该方法采用地面模拟辐照试验结合软件故障注入的方法，包括通过地面辐照试验获取AI芯片存储单元SEU数量和在轨时长关系，以及通过SEU软件故障注入建立AI芯片存储单元SEU数量和其推理准确度退化关系，从而实现评估AI芯片在轨时长与其推理准确度退化之间额关系。采用本方案可将AI芯片SEU影响评估成本降低至辐照试验评估的10％以内，评估时间由2个月缩短至1周；可根据AI模型特点开展尽可能多的重复SEU故障注入，大大提高了获取的AI芯片推理准确度退化数据的置信度；提出的评估方法通用性强，器件类型覆盖基于不同硬件加速器的AI芯片，算法覆盖MLP、CNN、DNN不同类型的神经网络算法。

公开(公告)号：CN116843299A

公开(公告)日：2023-10-03

申请号：CN202310870901.5

申请日：2023-07-14

Applicant: 中国科学院微小卫星创新研究院 ,  上海微小卫星工程中心

Inventor： 张冬冬 ,  吴炎来 ,  卢健 ,  郑晓燕 ,  李进 ,  金叶 ,  崔帅

IPC: G06Q10/10 ,  G06Q10/0639 ,  G06Q50/04 ,  G06F16/22 ,  G06F16/23 ,  G06F16/245 ,  G06F16/248 ,  G06N20/00

Abstract: 本发明涉及一种卫星元器件的数据管理系统及数据管理方法，包括卫星元器件数据集成子系统和客户端子系统，客户端子系统用于采集第一类数据、第二类数据和第三类数据；卫星元器件数据集成子系统包括协同数据管理模块、产品交付数据包管理模块、数据展示与应用模块、质量管理模块和技术状态管理模块，协同数据管理模块用于获取包括第一类数据、第二类数据和第三类数据的交付数据包，产品交付数据包管理模块用于收集和管理交付数据包，数据展示与应用模块用于展示交付数据包的信息，质量管理模块用于根据交付数据包的信息管理卫星元器件的质量，技术状态管理模块用于管理卫星元器件的技术数据。本申请可以提高卫星元器件的数据管理效率。

公开(公告)号：CN116739436A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202310854864.9

申请日：2023-07-12

Applicant: 中国科学院微小卫星创新研究院 ,  上海微小卫星工程中心

Inventor： 张冬冬 ,  吴炎来 ,  郑晓燕 ,  衡婷 ,  崔帅

IPC: G06Q10/0639 ,  G06F18/214 ,  G06F17/18

Abstract: 本发明涉及一种卫星元器件的质量评价方法、系统及计算机可读介质，该方法包括：步骤S1：在当前生产批次内抽取第一卫星元器件和第二卫星元器件；步骤S2：在当前生产批次内根据标准试验方法对第一卫星元器件进行辐照验证试验和/或温度循环试验；步骤S3：在当前生产批次内根据第二卫星元器件的电性能参数和试验后的第一卫星元器件的电性能参数，计算分布能力指数、离群率和筛选前后变化率；步骤S4：重复步骤S1～步骤S3，获得多个生产批次中每个生产批次所对应的分布能力指数、离群率和筛选前后变化率，并计算多个生产批次之间的整体评价指标；步骤S5：根据整体评价指标判断整体质量。本发明可以提高卫星元器件的整体质量评价的准确度。

公开(公告)号：CN117786623A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202311679297.4

申请日：2023-12-08

Applicant: 中国科学院微小卫星创新研究院 ,  上海微小卫星工程中心

Inventor： 蔡毓龙 ,  崔帅 ,  张冬冬 ,  卞泽宇 ,  衡婷

IPC: G06F21/12 ,  G06N5/04 ,  G06N3/0464

Abstract: 本发明公开用于抗AI芯片权重单粒子翻转的应用加固方法和系统，包括以下步骤：步骤S1，根据训练后AI芯片搭载的神经网络权重分布的特点，固化权重参数值；步骤S2，对权重值进行分布分析；步骤S3，优化设置权重限幅范围，完成权重限幅加固；步骤S4，分别对AI芯片不同神经网络层权重进行TMR；步骤S5，将SEU故障随机注入所有层的权重；步骤S6，获得AI芯片推理准确度和神经网络层关系；步骤S7，进行数据分析，定位关键层和关键位，完成关键层‑关键位TMR。采用本方法，可以大大提高AI芯片推理准确度，满足航天任务要求。