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公开(公告)号：CN101514885B
公开(公告)日：2012-05-23
申请号：CN200910131425.5
申请日：2009-03-30
Applicant: 中国科学院地质与地球物理研究所
IPC: G01B5/28
Abstract: 本发明公开了一种用于岩石表面粗糙度量测装置，包括一透明测板、三层保护框、一带有测托和接杆的百分表和若干接板；借助于保护框、接板等辅助零件将一块按一定方式布满测孔的透明测板固定在离被测对象表面一定距离的位置上，透明测板作为量测的相对平面，将带有测托的百分表的测杆依次插入透明测板的测孔中，使固定在百分表轴颈上的测托压紧透明测板，并令百分表的测头顶紧被测对象表面的某点，所测读数即为从透明测板到被测某点的相对距离，借助于计算机可将各测孔中得到的相对距离绘制出被测对象的粗糙度三维图和沿着某些剖面切出的粗糙度剖面图。本发明具有量测精度高，现场适应能力强，测点定位准确及测点密度较高等优点。
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