Patent search ap:("中国科学院上海微系统与信息技术研究所") AND inv:"王鹏钧" Page 1

1.

发明公开
一种抠图方法及装置审中-实审

公开(公告)号：CN118115512A

公开(公告)日：2024-05-31

申请号：CN202410196044.X

申请日：2024-02-22

Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

Inventor： 王鹏钧 , 高岩 , 陈玉来 , 李嘉茂 , 张晓林

IPC: G06T7/11 , G06T7/194

Abstract: 本发明涉及一种抠图方法及装置。其中，方法包括以下步骤：获取目标图像的mask图；基于所述mask图，生成所述目标图像的初始alpha图；对所述初始alpha图进行上采样操作；根据上采样操作后的所述初始alpha图中各像素点的alpha值划分前景区域、未知区域和背景区域，获得trimap图；将所述目标图像和所述trimap图输入抠图模型，得到所述目标图像的alpha图。本发明能够生成精确的trimap图，进而提高自然图像抠图方法的实用性，获取高质量的抠图。

Patent Agency Ranking