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公开(公告)号：CN105740555B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201610073979.4
申请日：2016-02-02
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供一种单粒子瞬态脉冲电流源的建模方法，首先建立单粒子瞬态脉冲电流源模型，然后利用脉冲波形测试电路对反相器电路的单粒子脉冲进行测试，获得单粒子瞬态脉冲不同电压值下的脉冲宽度，最后利用仿真器对反相器进行仿真模拟，将仿真结果与实际测试的反相器电路单粒子瞬态脉冲电压波形进行对比，校准单粒子瞬态脉冲电流源模型的参数，由此得到准确的等效电流源模型，为电路提供准确的瞬态脉冲电流源模型。
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公开(公告)号：CN105740555A
公开(公告)日：2016-07-06
申请号：CN201610073979.4
申请日：2016-02-02
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5036
Abstract: 本发明提供一种单粒子瞬态脉冲电流源的建模方法，首先建立单粒子瞬态脉冲电流源模型，然后利用脉冲波形测试电路对反相器电路的单粒子脉冲进行测试，获得单粒子瞬态脉冲不同电压值下的脉冲宽度，最后利用仿真器对反相器进行仿真模拟，将仿真结果与实际测试的反相器电路单粒子瞬态脉冲电压波形进行对比，校准单粒子瞬态脉冲电流源模型的参数，由此得到准确的等效电流源模型，为电路提供准确的瞬态脉冲电流源模型。
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公开(公告)号：CN105675984B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201610033983.8
申请日：2016-01-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R23/16
Abstract: 本发明提供一种脉冲波形测试电路，包括：用于收集单粒子轰击产生单粒子瞬态脉冲的脉冲收集模块；与所述脉冲收集模块相连，用于检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度，并产生多个相应的脉冲信号的脉冲宽度检测模块；与所述脉冲宽度检测模块相连，用于将不同电压值时检测到的脉冲宽度转化为数字信号的脉冲捕捉模块。本发明的脉冲波形测试电路测量出了单粒子效应的真实波形，可以以此建立更精准的单粒子效应瞬态电流脉冲模型，对抗辐射电路的加固设计具有重要参考意义。
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公开(公告)号：CN105608292B
公开(公告)日：2018-12-14
申请号：CN201610044468.X
申请日：2016-01-22
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明提供一种模拟单粒子脉冲长尾效应的建模方法，包括：高能粒子射入处于关态的MOS管的沟道区，电离出的大量的电子空穴对在电场的作用下形成瞬态电流脉冲，分析电子空穴对在体漏形成的反偏PN结空间电荷区的漂移过程，建立初步的节点电压恒定不变的漂移电流解析模型I(t)＝I0·(e‑αt‑e‑βt)；通过解析计算得到脉冲峰值I0的表达式；加入描述节点电压变化的模型表征节点电压和瞬态电流之间的关系，所述单粒子瞬态电流脉冲的电流源模型为：本发明的模拟单粒子脉冲长尾效应的建模方法建立的单粒子瞬态电流脉冲的电流源模型能准确拟合单粒子瞬态脉冲的长尾效应，对抗辐射电路的加固设计具有重要参考意义。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106997402A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201610051734.1
申请日：2016-01-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F17/5036
Abstract: 本发明提供一种单粒子效应多位翻转的电路仿真方法，包括：1）利用verilogA语言对单粒子入射产生电子空穴对的漂移扩散过程进行描述，建立单粒子瞬态脉冲电流源模型；2）将所述单粒子瞬态脉冲电流源模型同时加入到触发器电路的至少两个电路节点上，进行电路仿真；3）若触发器的输出发生翻转，则判定上述至少两个电路节点同时在单粒子瞬态脉冲电流下，会使得触发器电路的输出发生翻转。本发明完美展示了在65nm工艺节点下，触发器电路发生的单粒子多位翻转（MBU）效应，并且将翻转结果生成翻转列表，为电路的设计提供了可靠的指导；本发明可以在标准的电路仿真软件synopsys的hspice和Cadence的Spectre仿真器，中完美运行，具有很强的兼容性。
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公开(公告)号：CN106998198B
公开(公告)日：2024-02-27
申请号：CN201610051742.6
申请日：2016-01-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03K3/017
Abstract: 本发明提供一种自适应的触发器加固电路，包括反相器链，包括多级级联的反相器；锁存器，连接于每级反相器输出端，用于锁存反相器的输出逻辑状态；控制模块，用于控制某个时刻所有锁存器，使每个锁存器保持相对应的反相器输出逻辑状态；计算模块，用于计算逻辑发生变化的反相器个数，并以反相器的传输延时为单位，标定出SET脉冲的宽度；延时滤波模块，用于依据计算模块标定的SET脉冲的宽度，自动设置精确的滤波延时，滤除触发器模块的单粒子瞬态脉冲。本发明可以精确测得不同能量粒子轰击下的单粒子瞬态脉冲宽度，以保证滤波电路延时精确设定，可精确滤除单粒子脉冲，使芯片的加固DFF在获得预计的抗单粒子效果外，面积更优，速度折中代价最小。
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公开(公告)号：CN105675985B
公开(公告)日：2019-03-29
申请号：CN201610035027.3
申请日：2016-01-19
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R23/16
Abstract: 本发明提供一种脉冲波形测试方法，包括：收集单粒子轰击信息，并产生单粒子瞬态脉冲；检测所述单粒子瞬态脉冲在不同电压值时的脉冲宽度，并产生相应宽度的脉冲信号；根据不同电压值时产生的相应宽度的脉冲信号标定当前电压值时所述单粒子瞬态脉冲的脉冲宽度；将不同电压值时标定的脉冲宽度整合并还原所述单粒子瞬态脉冲的波形。本发明的脉冲波形测试方法测量出了单粒子效应的真实波形，可以以此建立更精准的单粒子效应瞬态电流脉冲模型，对抗辐射电路的加固设计具有重要参考意义。
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公开(公告)号：CN106998198A
公开(公告)日：2017-08-01
申请号：CN201610051742.6
申请日：2016-01-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03K3/017
CPC classification number: H03K3/017
Abstract: 本发明提供一种自适应的触发器加固电路，包括反相器链，包括多级级联的反相器；锁存器，连接于每级反相器输出端，用于锁存反相器的输出逻辑状态；控制模块，用于控制某个时刻所有锁存器，使每个锁存器保持相对应的反相器输出逻辑状态；计算模块，用于计算逻辑发生变化的反相器个数，并以反相器的传输延时为单位，标定出SET脉冲的宽度；延时滤波模块，用于依据计算模块标定的SET脉冲的宽度，自动设置精确的滤波延时，滤除触发器模块的单粒子瞬态脉冲。本发明可以精确测得不同能量粒子轰击下的单粒子瞬态脉冲宽度，以保证滤波电路延时精确设定，可精确滤除单粒子脉冲，使芯片的加固DFF在获得预计的抗单粒子效果外，面积更优，速度折中代价最小。
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公开(公告)号：CN205566246U
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201620075508.2
申请日：2016-01-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03K3/02
Abstract: 本实用新型提供一种自适应的触发器加固电路，包括反相器链，包括多级级联的反相器；锁存器，连接于每级反相器输出端，用于锁存反相器输出逻辑状态；控制模块，用于控制某个时刻所有锁存器，使每个锁存器保持相对应的反相器输出逻辑状态；计算模块，用于计算逻辑发生变化的反相器个数，并以反相器的传输延时为单位，标定出SET脉冲的宽度；延时滤波模块，用于依据计算模块标定的SET脉冲的宽度，自动设置精确的滤波延时，滤除触发器模块的单粒子瞬态脉冲。本实用新型可以精确测得不同能量粒子轰击下的单粒子瞬态脉冲宽度，以保证滤波电路延时精确设定，可精确滤除单粒子脉冲，使芯片的加固DFF在获得预计的抗单粒子效果外，面积更优，速度折中代价最小。
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