公开(公告)号：CN109407365A

公开(公告)日：2019-03-01

申请号：CN201811523904.7

申请日：2018-12-13

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 赵元安 ,  彭丽萍 ,  刘晓凤 ,  李大伟 ,  邵建达 ,  邵宇辰 ,  吴金明 ,  马浩

IPC: G02F1/13

Abstract: 一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法，包括泵浦激光源、连续探测激光源、分束镜、光束质量分析仪、吸收池及计算机。泵浦激光源辐照液晶光栅器件时，连续探测激光源也同时辐照在器件上，由光束质量分析仪分别记录透过液晶光栅器件前后的连续探测激光功率密度的空间分布，并对得到的功率密度在空间分布上进行积分。定义激光功率密度在空间分布上的积分值为激光总功率，透过液晶光栅器件前后的探测激光束总功率之比为衍射效率。本发明可准确测量激光作用下液晶光栅器件的衍射效率变化，为液晶光栅器件在连续激光系统下的应用提供依据。该方法最重要的是要对由光束质量分析仪获得的激光功率密度分布图进行像素强度提取，利用像素强度表征激光功率密度的大小，激光总功率由对激光功率密度在空间分布上的积分获得。

公开(公告)号：CN109407365B

公开(公告)日：2021-07-06

申请号：CN201811523904.7

申请日：2018-12-13

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 赵元安 ,  彭丽萍 ,  刘晓凤 ,  李大伟 ,  邵建达 ,  邵宇辰 ,  吴金明 ,  马浩

IPC: G02F1/13

Abstract: 一种激光作用下液晶光栅器件衍射效率的测量装置及方法，包括泵浦激光源、连续探测激光源、分束镜、光束质量分析仪、吸收池及计算机。泵浦激光源辐照液晶光栅器件时，连续探测激光源也同时辐照在器件上，由光束质量分析仪分别记录透过液晶光栅器件前后的连续探测激光功率密度的空间分布，并对得到的功率密度在空间分布上进行积分。定义激光功率密度在空间分布上的积分值为激光总功率，透过液晶光栅器件前后的探测激光束总功率之比为衍射效率。本发明可准确测量激光作用下液晶光栅器件的衍射效率变化，为液晶光栅器件在连续激光系统下的应用提供依据。该方法最重要的是要对由光束质量分析仪获得的激光功率密度分布图进行像素强度提取，利用像素强度表征激光功率密度的大小，激光总功率由对激光功率密度在空间分布上的积分获得。