金属材料内孪晶界面比例分数的测量方法及测量系统

    公开(公告)号:CN117233187A

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202310940532.2

    申请日:2023-07-28

    Inventor: 何满潮 郭洪燕

    Abstract: 一种金属材料内孪晶界面比例分数的测量方法及测量系统。所述测量方法通过大区域的EBSD取向统计一般晶界的比例,根据大区域取向选择典型的小区域来统计微纳米孪晶分数,最后通过两者结果组合来获得样品整体的孪晶界比例。本发明的测量方法通过EBSD和t‑EBSD表征分析,通过飞秒激光(FS‑Laser)和FIB加工技术,最终将EBSD与t‑EBSD技术得到的多尺度孪晶数据整合,得到微/纳米多晶材料的具有统计可靠性的整体真实孪晶界面数据。本发明的方法提高了统计的准确性,实现了毫米‑厘米级样品内部孪晶分数的定量统计,能够高通量、准确地获取金属材料中孪晶界面密度(占比分数)。

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