一种用于多芯片耦合封装的光信号分配与互联芯片

    公开(公告)号:CN119094026A

    公开(公告)日:2024-12-06

    申请号:CN202411155918.3

    申请日:2024-08-22

    Abstract: 本发明公开了一种用于多芯片耦合封装的光信号分配与互联芯片,属于光纤通信技术领域,其包括:中介芯片、信号处理芯片。中介芯片由中介芯片对准单元、端面耦合器、波导交叠结构和光学系统单元组成。中介芯片对准单元由端面耦合器和1x2多模干涉耦合器组成。中介芯片的端面耦合器阵列由多个端面耦合器组成。中介芯片包含四个中介芯片的端面耦合器阵列,位于芯片的四个边缘。信号处理芯片由对侧对准单元、同侧对准单元、信号处理芯片的端面耦合器阵列、电极引脚和光电系统单元组成。本发明的每个单元均能独立运作,能够在多种不同材料间灵活应用,显著增强了系统的模块性与可测试性,提高成品率,降低了维护难度与故障排查成本。

    一种高集成高精度的波分复用延时线

    公开(公告)号:CN118604954A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410888643.8

    申请日:2024-07-04

    Abstract: 本发明公开了一种高集成高精度的波分复用延时线,属于集成光电子器件技术领域;其包括光延时单元、n个基于微环谐振器的波长选择性2×2光开关单元和1个基于马赫曾德尔干涉仪MZI的波长选择性2×2光开关单元K0;基于马赫曾德尔干涉仪MZI的波长选择性2×2光开关单元K0的其左侧两端口作为输入端口SSC1和SSC2,另一侧连接间隔设置并依次串联的基于微环谐振器的波长选择性2×2光开关单元和光延时单元;末端的基于微环谐振器的波长选择性2×2光开关单元的右侧两端口作为输出端口SSC3和SSC4。本发明利用微环谐振器产生的额外延时作为延时步进,在一条光延迟线上独立地延迟多路不同波长的光信号。

    一种基于偏馈多波束的宽空域遥测信号接收方法

    公开(公告)号:CN117879728A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202410030053.1

    申请日:2024-01-09

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏馈多波束的宽空域遥测信号接收方法,涉及Ka频段测控领域。本发明包括:对偏馈多波束接收的多路偏馈遥测信号进行合成;对合成/主收遥测信号进行信噪比估计;对合成/主收遥测信号进行解调和帧同步;对帧同步后的合成/主收遥测信号数据帧打时标;将打时标后的合成/主收遥测信号数据帧上报基带软件;基带软件根据信噪比以及时标,对合成信号和主收遥测信号数据帧进行拼帧处理;把拼帧处理后的数据帧上报中心。本发明能在宽空域内实现Ka频段遥测信号的快速捕获,通过合成技术和拼帧处理,增加了遥测数据的接收数量。

    一种Ka频段偏馈多波束接收阵列
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116015391A

    公开(公告)日:2023-04-25

    申请号:CN202211639608.X

    申请日:2022-12-20

    Abstract: 本发明涉及高动态飞行器测控领域,公开了一种Ka频段偏馈多波束接收阵列,包括馈源转接板、多通道变频组件、数字组件、液冷散热板、本振分路器和时钟/同步信号分路器等。本发明通过480个偏馈波束实现5°×5°空域范围覆盖;多通道变频组件实现多馈源接收信号的滤波、放大、选择与下变频,中频信号经数字组件数字化后送基带进行信号检测,同时根据信号检测结果选择出信号最强波束及其周围的三个次强波束数据进行偏馈遥测信号合成,提升系统遥测信号接收时间。本发明在完成偏馈目标捕获与引导同时,可完成偏馈遥测信号实时接收,增长系统遥测信号接收时间。各模块间一体化集成设计,不存在互联电缆,集成度高、可靠性高、抗干扰能力强、维修方便。

    一种大规模组件自动测试系统

    公开(公告)号:CN216485244U

    公开(公告)日:2022-05-10

    申请号:CN202122866144.3

    申请日:2021-11-22

    Abstract: 本实用新型涉及一种大规模组件自动测试系统,属于组件测试技术领域。包括测试工装、网络交换机、数据处理与控制单元及频谱仪;测试工装包括第一测试双工器、第二测试双工器、第一开关、第二开关、第三开关、第一射频继电器、第二射频继电器、放大器以及两个衰减器等,通过开关切换不同链路,对组件产品的多项指标进行高效、快捷的自动化测试,创建测试报告并存储。本实用新型通过将各种线损、温度波动系数、幅频特性等统一建立对应的函数关系表,使测试使用过程中的功率值稳定,避免了因功率值变化导致通道间性能指标不一致,提高了通道间指标测试的准确度。该测试系统操作简单、效率高、误差小、通用性强,适用于大规模微波组件的批量测试。

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