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公开(公告)号：CN114036450B
公开(公告)日：2023-06-06
申请号：CN202111238822.X
申请日：2021-10-25
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
IPC: G06F17/11 , G06Q10/0639
Abstract: 本发明涉及产品测试性试验与评估领域，公开了一种电子信息装备测试性指标快速考核的方法及存储介质。本方法包括：步骤1：根据维修方案确定产品的现场可更换单元清单，并依据可靠性预计得到各现场可更换单元的故障率数据；步骤2：开展产品的FMECA分析，并确认FMECA分析的准确性及完整性；步骤3：结合FMECA分析结果，开展产品测试性指标预计；步骤4：确定产品试验故障样本量，制定试验方案；步骤5：开展试验并进行数据记录；步骤6：统计记录的数据，进行测试性参数评估。本发明提供的方法可实现在外场自然故障样本数量少，试验进度紧张，试验经费有效的情况下对装备的测试性指标做出一种基于试验结果的快速考核评估。
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公开(公告)号：CN110489805B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201910660711.4
申请日：2019-07-22
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
IPC: G06F30/20
Abstract: 本发明公开了一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，涉及电路产品测试性设计领域，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：获取所述电子信息装备的失效率记为λs及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn；获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA；计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γFA；本发明提供了一种有效的方法，使电子设备在设计阶段能对产品的BIT虚警率进行量化评估，以提升电子信息装备的测试性设计水平。
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公开(公告)号：CN114036450A
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202111238822.X
申请日：2021-10-25
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
Abstract: 本发明涉及产品测试性试验与评估领域，公开了一种电子信息装备测试性指标快速考核的方法及存储介质。本方法包括：步骤1：根据维修方案确定产品的现场可更换单元清单，并依据可靠性预计得到各现场可更换单元的故障率数据；步骤2：开展产品的FMECA分析，并确认FMECA分析的准确性及完整性；步骤3：结合FMECA分析结果，开展产品测试性指标预计；步骤4：确定产品试验故障样本量，制定试验方案；步骤5：开展试验并进行数据记录；步骤6：统计记录的数据，进行测试性参数评估。本发明提供的方法可实现在外场自然故障样本数量少，试验进度紧张，试验经费有效的情况下对装备的测试性指标做出一种基于试验结果的快速考核评估。
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公开(公告)号：CN110489805A
公开(公告)日：2019-11-22
申请号：CN201910660711.4
申请日：2019-07-22
Applicant: 中国电子科技集团公司第二十九研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种机载电子信息装备BIT虚警率预计的方法，涉及电路产品测试性设计领域，包括待分析的电子信息装备及构成所述电子信息装备的元器件，该方法还包括以下步骤：获取所述电子信息装备的失效率记为λs及所述电子信息装备内BITE装置及监测电路总的失效率记为λn；获取所述电子信息装备的任务持续时间ts；计算在所述任务持续时间内发生虚警的概率PA；计算在所述任务持续时间内发生的BIT虚警率γFA；本发明提供了一种有效的方法，使电子设备在设计阶段能对产品的BIT虚警率进行量化评估，以提升电子信息装备的测试性设计水平。
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