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公开(公告)号：CN113253196B
公开(公告)日：2024-05-21
申请号：CN202110608884.9
申请日：2021-06-01
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G01S3/14 , G06F18/24 , G06N3/0442 , G06N3/08
Abstract: 本申请公开了一种多信号测向方法、装置和电子设备。本申请的电子设备包括存储器和处理器；多信号测向装置包括第一计算单元，分类处理单元和第二计算单元；多信号测向方法包括：获取信号的特征矢量和信号数，所述信号为利用阵列天线接收到的远场信号；将所述信号的特征矢量输入到训练后的分类模型中，通过分类模型的输出获得信号的全部可能来波方向及各来波方向的分类值；根据所述信号数和各来波方向的分类值，确定信号的来波方向估计值。本申请的技术方案能够在不改变测向系统物理结构的前提下显著提升测向分辨力。
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公开(公告)号：CN111914506B
公开(公告)日：2024-05-14
申请号：CN202010776680.1
申请日：2020-08-05
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G06F30/367 , G06F30/17
Abstract: 本申请公开了一种天线阵测向方法、装置及电子设备。所述方法包括：基于仿生学构建耦合电路；获取天线阵在设置耦合电路的情况下输出的放大相位差，以及在未设置耦合电路的情况下输出的理论相位差；根据理论相位差和放大相位差确定与不同入射角相对应的相位差放大系数；在利用天线阵测向时，将耦合电路设置在天线阵的后端，获取天线阵测向所得的初始入射角，并基于所述初始入射角多次旋转天线阵，获取天线阵每次旋转后测向所得的入射角，在天线阵测向所得的入射角位于相位差放大系数最大时所对应的入射角的预设角度范围内时，得到测向结果。本申请实施例在保证测向精度的同时，还能够实现测向天线阵的小型化，较好的适用于小型化平台。
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公开(公告)号：CN117784004A
公开(公告)日：2024-03-29
申请号：CN202311580347.3
申请日：2023-11-24
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G01S5/02
Abstract: 本申请公开了一种基于压缩观测量直接定位静止辐射源的方法、装置和系统。该方法由辐射源定位系统中的主站执行，包括：获取主站的未压缩观测量和所有辅站的压缩观测量；根据所有辅站的压缩观测量和主站的未压缩观测量构建静止辐射源位置估计的代价函数，代价函数中的未知量包含静止辐射源信号；利用主站的未压缩观测量得到静止辐射源信号的极大似然估计，代入构建的代价函数，得到静止辐射源位置估计的代价函数估计，代价函数估计中的未知量由所有辅站的压缩观测量和主站的未压缩观测量构成，通过优化求解所述代价函数估计实现对静止辐射源的直接定位。本申请无需增加系统总交互量，无需信号重构和时差频差参数提取，在混合观测域内实现直接定位。
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公开(公告)号：CN117540259A
公开(公告)日：2024-02-09
申请号：CN202210891058.4
申请日：2022-07-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G06F18/241 , G06F18/214 , G06N3/0464 , G06N3/048 , G06N3/09 , G06F123/02
Abstract: 本发明涉及一种信号来波方向与调制样式联合智能估计模型的构建方法，属于信号分析处理技术领域，解决了现有技术中针对来波方向估计和调制样式识别，存在的算法复杂、硬件成本高等问题。本发明通过构建多任务深度神经网络结构，并采集多路同步采样IQ数据流，形成训练样本和测试样本，对神经网络结构进行训练，并增加调制样式和来波方向估计提取模块，获得来波方向与调制样式联合智能估计模型，然后对测试样本进行估计，获得来波方向估计结果和调制样式识别结果，完成模型的构建。实现了以较少的性能损失同时实现较高精度的来波方向估计和较高准确率的调制样式识别，有利于减少两类结果关联所需的工作量，同时可降低对处理设备算力的需求。
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公开(公告)号：CN109933890B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN201910181920.0
申请日：2019-03-11
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
Inventor： 尤明懿
IPC: G06F30/20 , G06Q10/04 , G06Q10/0639 , G06Q10/20 , G06Q30/0283
Abstract: 本发明公开一种产品综合维修方法和装置。本发明的方法包括：根据同类产品的历史使用寿命数据估计产品的寿命分布函数和寿命估计函数的估计方差，并根据寿命分布函数获得产品的预防维修规划；获得产品衰退过程中的瞬时寿命分布函数、产品在各个状态监测时刻的预测寿命估计结果和产品衰退过程中基于各状态监测时刻的预测寿命估计结果的预测寿命分布函数；根据瞬时寿命分布函数和预测寿命分布函数获得产品的联合预测维修规划；构建产品的广义寿命模型有效性指标，在有效性指标不小于预设值时，根据预防维修规划进行产品维修，反之根据联合预测维修规划进行产品维修。本发明的技术方案能够获得更好的维修性能。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110031795A
公开(公告)日：2019-07-19
申请号：CN201910156170.1
申请日：2019-03-01
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G01S3/48
Abstract: 本发明公开一种单基线干涉仪测向方法和装置。本发明的装置包括频谱分析单元、第一计算单元、第二计算单元和估计与测向单元；本发明的方法包括：对单基线干涉仪接收到的信号进行处理，获得信号的频谱；根据信号的频谱获得参与时差估计的每根谱线的信噪比和相位差测量结果；根据预先获得谱线信噪比与谱线权重系数的对应关系，获得参与时差估计的每根谱线的权重系数；根据参与时差估计的每根谱线的权重系数、相位差测量结果和信号的角频率，利用预先建立的时差估计模型，获得信号的时差估计值，以根据时差估计值获得信号的方向。本发明的技术方案能够有效提高测向精度。
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公开(公告)号：CN110020472A
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201910249402.8
申请日：2019-03-29
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开一种产品剩余寿命预测方法、装置和系统。本发明的方法包括：构建产品的衰退过程模型；利用产品运行过程中当前状态监测时刻及当前状态检测时刻之前的多个状态检测时刻对应的状态监测数据，分别获得衰退速率参数和截距参数的后验分布情况；根据后验分布情况更新衰退速率参数和截距参数，并获得产品在未来时刻的预测状态；根据产品在未来时刻的预测状态和产品的状态阈值，获得处于未来时刻至当前状态监测时刻之间每个状态监测时刻产品的未失效概率，并根据产品的未失效概率获得所述产品的剩余寿命。本发明的技术方案在过程噪声较高和较低的场景下，都能获得可靠地剩余寿命估计结果，为后续维修时间规划提供可靠的指导。
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公开(公告)号：CN107315396B
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201710389527.1
申请日：2017-05-27
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
Inventor： 尤明懿
IPC: G05B19/418 , G06F17/50 , G06Q10/00 , G06Q50/04
Abstract: 本发明涉及一种状态监测维修与预测维修混合维修规划方法，包括步骤：步骤一、根据状态监测维修策略采集系统状态值；步骤二、判断系统状态值是否达到预防维修状态阈值Lp，否，则执行步骤一；是，则执行步骤三；步骤三、判断系统状态值是否超过失效阈值，是，则开展事后维修；否，则建立预测维修规划策略；步骤四、判断是否满足预测维修策略的更新停止条件，否，则执行步骤三；是，则开展预防维修。本发明实施例提出一种混合维修规划方法，既能在产品开始运行前对维修策略可能达到的总体水平给出准确估计，又能在此基础上基于预测维修方法进一步提升部分产品的维修效果，进而提升所有产品的总体维修效果。
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公开(公告)号：CN106055790B
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201610375676.8
申请日：2016-05-30
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种单次冲击应力筛选条件的优化方法和装置。该方法包括：根据产品的失效阈值对建立产品的可靠性模型，得到无损伤产品和在使用过程中仅因冲击应力导致失效的产品的工作寿命分布函数；基于产品的失效阈值为确定值建立单次冲击应力筛选过程模型，得到单次冲击应力筛选后未失效产品的归一寿命分布函数，其中初始无损伤但筛选后存在损伤的产品和初始存在损伤但通过筛选的产品具有不同的寿命分布函数；根据产品的期望寿命优化归一寿命分布函数，得到优化后的单次冲击应力筛选条件。本发明能够适用初始无损伤产品和初始完好但筛选后产生缺陷的产品有不同寿命函数的情形，丰富了单次冲击应力筛选的应用场景。
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公开(公告)号：CN106021783B
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201610374797.0
申请日：2016-05-30
Applicant: 中国电子科技集团公司第三十六研究所
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种多次冲击应力筛选条件的优化方法和装置。该方法包括：对产品的可靠性建模，得到无损伤产品的工作寿命分布函数，以及在使用过程中仅因冲击应力导致失效的产品的工作寿命分布函数；根据无损伤产品的工作寿命分布函数和在使用过程中仅因冲击应力导致失效的产品的工作寿命分布函数对多次冲击应力筛选过程建模，得到多次冲击应力筛选后未失效产品的归一寿命分布函数；根据产品的期望寿命优化所述归一寿命分布函数，得到优化后的多次冲击应力筛选条件，所述筛选条件包括筛选次数和筛选应力。本发明能够对产品进行多次冲击应力筛选，并且能够对实现多次冲击应力筛选的筛选条件优化起到一定的指导作用。
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