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发明公开
电子元器件的选用安全性评估方法、装置、设备和介质审中-实审

公开(公告)号：CN116957333A

公开(公告)日：2023-10-27

申请号：CN202310891159.6

申请日：2023-07-19

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 丁春光 , 沈佳塔 , 徐永亮 , 赖冠宏 , 胡宁

IPC: G06Q10/0635 , G06Q30/0282

Abstract: 本申请涉及一种电子元器件的选用安全性评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：响应于携带有电子元器件的标识信息的评估请求，获取相应电子元器件的供货状态、备件风险等级、数量供应风险等级、数量风险信息以及电子元器件的可替代程度；根据电子元器件的供货状态，确定电子元器件对应的寿命风险数值、预期寿命和实际寿命，以确定针对电子元器件的第一风险值；根据备件风险等级和电子元器件的可替代程度，确定针对电子元器件的第二风险值；根据数量供应风险等级和数量风险信息，确定针对电子元器件的第三风险值，以对电子元器件进行评估。采用本方法能够提高了电子元器件的选用安全性评估的准确率。

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