公开(公告)号：CN118314327A

公开(公告)日：2024-07-09

申请号：CN202410515602.4

申请日：2024-04-26

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 赵玥 ,  王之哲 ,  罗军 ,  张秋镇 ,  朱青山 ,  丁辰宇

IPC: G06V10/25 ,  G06V10/774 ,  G06V10/82 ,  G06N3/08 ,  G06N3/0464 ,  G06T5/20 ,  G06T5/70 ,  G06T5/40 ,  G06V10/22 ,  G06V10/764

Abstract: 本申请涉及一种集成电路标志检测方法、装置、计算机设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品。获取图像数据集；所述图像数据集包括样本图像，所述样本图像中包括相应样本集成电路的标志对象；对所述样本图像添加相应的标志标签；所述标志标签用于对所述样本图像中的标志对象进行定位注释；根据所述样本图像以及所述标志标签，获取训练集，并根据所述训练集对初始神经网络进行训练，得到目标检测模型；所述目标检测模型包括卷积层和注意力机制层；获取待检测集成电路的待检测图像，将所述待检测图像输入所述目标检测模型，得到所述待检测集成电路的标志检测结果。采用本方法能够大大提高对集成电路标志的识别效率和识别精度。