摄像头芯片的测试方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117294833B

    公开(公告)日:2025-05-16

    申请号:CN202311316496.9

    申请日:2023-10-11

    Abstract: 本公开提供了一种摄像头芯片的测试方法及相关设备,涉及智能监控技术领域技术领域。该方法包括,根据统一报文交互协议,发送连接协议,与多个待检测摄像头进行连接;下发芯片测试数据到每个待检测摄像头,以使各个待检测摄像头根据芯片测试数据执行测试,得到各个芯片的测试结果,其中,待检测摄像头设置相同的算法模型;接收每个待检测摄像头返回的芯片的测试结果信息,确定芯片测试结果表。本公开通过统一报文交互协议结合统一设置算法模型,可兼容不同厂家的芯片架构和接口并屏蔽算法对芯片性能表现的影响,克服相关技术中摄像头芯片的测试计算标准不统一的问题,实现芯片性能的横向对比。

    信号强度的确定方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN117148383A

    公开(公告)日:2023-12-01

    申请号:CN202311063162.5

    申请日:2023-08-22

    Inventor: 胡磊国

    Abstract: 本申请涉及一种信号强度的确定方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取当前时刻的待测点的环境参数,以及当前时刻对应的卫星的星历数据,根据环境参数和星历数据,确定卫星与待测点之间的遮挡关系,根据遮挡关系和遮挡物的属性信息,确定待测点的信号强度。本申请基于待测点的实际环境参数和当前时刻卫星的星历数据,确定卫星与待测点之间的遮挡关系,进而根据遮挡关系和待测点的环境参数确定待测点的信号强度,与现有的依靠静态、开阔无遮挡场景下确定的待测点的信号强度相比,本申请考虑了待测点周围实际的环境参数,从而进一步提高了待测点信号强度的准确度。

    云端性能测试方法、装置、计算机设备和存储介质

    公开(公告)号:CN116827823A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202310912502.0

    申请日:2023-07-24

    Abstract: 本申请涉及一种云端性能测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。该方法包括:基于针对云端上部署云应用的多种测试操作得到性能测试任务;根据性能测试任务对云端进行多次测试得到多个测试结果;基于多个测试结果确定云端的稳定性;对云端进行测试的过程包括:依次发送各种测试操作的操作请求至云端,记录发送各种测试操作的操作请求时实体终端的第一性能信息;记录接收到云端返回的各种测试操作的执行结果时实体终端的第二性能信息;基于第一性能信息和第二性能信息得到每种测试操作对应的性能信息变化量;将每种测试操作对应的性能信息变化量确定为本次测试的测试结果。采用本方法,能够提高云端的性能测试结果的可靠性。

    测试装置及多链路性能测试系统
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118175569A

    公开(公告)日:2024-06-11

    申请号:CN202410442630.8

    申请日:2024-04-12

    Inventor: 胡磊国 洪博宇

    Abstract: 本申请涉及一种测试装置及多链路性能测试系统。所述测试装置中衰减器矩阵经由多个合路器与信道模拟器连接;衰减器矩阵用于对每个测试频段的多路空间流信号分别进行衰减处理,输出多个衰减信号;合路器用于对多个衰减信号进行合路处理,输出多路合路信号;信道模拟器用于处理多路合路信号以获得处理后的信号,并将处理后的信号传输至屏蔽环境中。本申请通过多通道信道模拟器、合路器与衰减器矩阵对辅助设备的输出信号进行多链路聚合和信道衰减补偿实现信道复用,可以减少所需信道模拟器通道数,从而有效降低信道复杂度及降低成本。

    摄像头芯片的测试方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117294833A

    公开(公告)日:2023-12-26

    申请号:CN202311316496.9

    申请日:2023-10-11

    Abstract: 本公开提供了一种摄像头芯片的测试方法及相关设备,涉及智能监控技术领域技术领域。该方法包括,根据统一报文交互协议,发送连接协议,与多个待检测摄像头进行连接;下发芯片测试数据到每个待检测摄像头,以使各个待检测摄像头根据芯片测试数据执行测试,得到各个芯片的测试结果,其中,待检测摄像头设置相同的算法模型;接收每个待检测摄像头返回的芯片的测试结果信息,确定芯片测试结果表。本公开通过统一报文交互协议结合统一设置算法模型,可兼容不同厂家的芯片架构和接口并屏蔽算法对芯片性能表现的影响,克服相关技术中摄像头芯片的测试计算标准不统一的问题,实现芯片性能的横向对比。

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