一种双聚焦质谱仪的电控系统、双聚焦质谱仪

    公开(公告)号:CN118778494A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202410729975.1

    申请日:2024-06-06

    Abstract: 本发明公开一种双聚焦质谱仪的电控系统及双聚焦质谱仪,包括控制计算机和供电模块。控制计算机,用于向供电模块发出设定指令,供电模块包括分析电磁铁供电单元和静电分析器供电单元。分析电磁铁供电单元,用于根据控制计算机发出的设定指令,将外部电源转换为相应驱动电流后,提供给分析电磁铁,以及,用于根据分析电磁铁的实际磁场强度调整驱动电流。静电分析器供电单元,用于根据控制计算机发出的设定指令,将外部电源转换为相应设定电压后,提供给静电分析器,以及,用于根据静电分析器的实际电场强度调整设定电压。以至少解决相关技术中存在的双聚焦质谱仪电控系统稳定性和可靠性不高的问题。

    质谱仪法拉第杯移动装置、方法及同位素精确分析系统

    公开(公告)号:CN118263090A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410345889.0

    申请日:2024-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种质谱仪法拉第杯移动装置,传动组件贯穿质谱仪真空腔室的壁面,传动组件和壁面的贯穿位置处设置贯穿组件,贯穿组件外表面密封连接壁面,内表面和传动组件之间设有挤压件和弹性材料件,挤压件能够挤压弹性材料件,使弹性材料件朝向传动组件形变从而贴紧密封连接传动组件,移动组件设置在质谱仪真空腔室内,传动组件设置在壁面外的一端连接驱动件,设置在壁面内的一端连接移动组件,从而在驱动件的驱动下,驱使法拉第杯运动。本发明的质谱仪法拉第杯移动装置能够移动法拉第杯,便于同位素的测量,同时不会给质谱仪内的真空环境带来额外的电磁干扰,保证测量极限精度。本发明还提供一种质谱仪法拉第杯移动方法及同位素精确分析系统。

    一种放射性工艺样品分离装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118072998A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202410018044.0

    申请日:2024-01-04

    Abstract: 本发明属于分析仪器技术领域,提供了一种放射性工艺样品分离装置,包括箱室区和操作区;其中箱室区内部安装有支撑组件、分离组件和内加压组件;支撑组件用于支撑分离组件和内加压组件;分离组件包括储液槽和分离柱,储液槽与分离柱为一体式结构;分离柱内部填充有固体树脂,用于分离样品。本发明通过采用支撑组件、分离组件、加液组件、内加压组件和外加压组件等,在进行放射性样品分离过程中通过分离组件、加液组件和内加压组件之间的相互作用,可以让样品快速、有效分离,直至样品中的目标元素完成分离,避免多种成分之间互相干扰,从而对目标元素进行准确测量。

    一种用于放射样品分析的设备及使用方法

    公开(公告)号:CN117826233A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311723730.X

    申请日:2023-12-14

    Abstract: 本发明涉及乏燃料后处理设备技术领域,具体公开了一种用于放射样品分析的设备,包括样品室、箱体、分析仪和计算机,箱体上设置有多个防辐射泄漏的管接头,管接头分别用于将电缆、气管、纯水管和试剂管导入至箱体内,箱体上设置有防辐射的手套,用于手动对样品进行操作,分析仪设置在箱体外,样品室设置在箱体内;或分析仪设置在箱体内,样品室集成在分析仪中,计算机设置在箱体外,样品室通过数据传输线与分析仪连接,分析仪通过数据传输线与计算机连接,计算机用于控制分析仪对样品进行测量、分析及预测。该设备可满足后处理工艺中放射性样品的分析需求,保障了工艺的安全有效运行。

    一种混合K边吸收-X射线荧光分析方法和设备

    公开(公告)号:CN117191842B

    公开(公告)日:2025-04-15

    申请号:CN202311021784.1

    申请日:2023-08-14

    Abstract: 本发明公开了一种混合K边吸收‑X射线荧光分析方法,采用X射线照射待测样品,以使待测样品产生铀K边界吸收,以及激发出待测样品铀、钚的L系特征荧光,根据经过待测样品铀K边界吸收后的X射线获得待测样品中铀的吸收谱,根据吸收谱和X射线空白谱从而得到铀浓度;根据待测样品铀、钚的L系特征荧光获得待测样品中铀、钚的L系荧光峰面积关系,从而得到铀/钚浓度比,进而获得待测样品的钚浓度。本发明的混合K边吸收‑X射线荧光分析方法能够破除应用范围限制,有效提高分析结果准确度,并有效降低X射线散射影响。本发明还提供一种混合K边吸收‑X射线荧光分析设备。

    一种溶液中钚浓度测量的自发X射线分析装置及方法

    公开(公告)号:CN118033710B

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410018279.X

    申请日:2024-01-04

    Abstract: 本发明涉及一种溶液中钚浓度测量的自发X射线分析装置及方法,属于放射性元素分析技术领域。所述装置包括手套箱、探测器、前置放大器和多道分析器;手套箱的底板上设有样品槽,样品槽内设有样品瓶,样品槽底部设有透射窗,样品瓶的轴线与透射窗的轴线重合;探测器位于透射窗远离样品瓶的一侧,且透射窗的轴线和探测器的轴线重合;前置放大器分别连接探测器和多道分析器,多道分析器连接有计算机,计算机位于所述手套箱外;所述探测器、前置放大器和多道分析器的外周壁均设有屏蔽体,屏蔽体位于手套箱底板的底部外壁上。本发明有效避免了探测器、前置放大器、多道分析器等关键部件长时间处于高放射性环境中,大大延长了其使用寿命。

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