一种自由曲面镀膜装夹装备

    公开(公告)号:CN114657529A

    公开(公告)日:2022-06-24

    申请号:CN202210309500.8

    申请日:2022-03-25

    Abstract: 本发明公开了一种自由曲面镀膜装夹装备,涉及真空镀膜试镀设备技术领域,包括位于上方可以转动的安装架,所述安装架上方设置有驱动安装架转动的驱动机构,所述安装架下方按阵列均布有间距可调整的工装单元,每个工装单元均包括高度可以调节的支撑和设置在支撑末端用于安装试镀元件离散单元的安装机构,所述安装机构上设置有能够调整试镀元件离散单元面向镀膜蒸发源角度且无阴影效应的角度调节机构。本发明能够模拟各种复杂曲面;另外多个试镀元件离散单元通过安阵列布置的工装单元能够模拟大口径复杂曲面的形状,且工装单元上在调节角度过程中,没有遮挡试镀元件离散单元的结构,避免了蒸发料受遮挡造成“阴影效应”。

    一种光学元件全口径镀膜装置及其方法

    公开(公告)号:CN113046715A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202110273214.6

    申请日:2021-03-11

    Abstract: 本发明适用于光学元件镀膜技术领域,提供了一种光学元件全口径镀膜装置及其方法,该镀膜装置包括夹持工装主体、夹持组件、侧面板、至少一个顶紧组件;所述夹持工装主体包括基板、至少两个限位块,所述基板上设置有容纳孔,所述限位块对称设置在所述容纳孔的四周;所述夹持组件滑动设置在所述限位块内;所述侧面板设置在所述限位块的两侧,与所述限位块固定连接;所述顶紧组件贯穿所述限位块,与所述夹持组件的端面抵接。本发明提供的镀膜装置设置了侧面板,夹持组件采用聚四氟乙烯材料,结构强度高,夹持应力小,不会对光学元件造成损伤,并且方便快捷、不易松动、掉落,可适用于需要全口径镀膜的中小尺寸的光学元件。

    一种光学元件全口径镀膜装置及其方法

    公开(公告)号:CN113046715B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN202110273214.6

    申请日:2021-03-11

    Abstract: 本发明适用于光学元件镀膜技术领域,提供了一种光学元件全口径镀膜装置及其方法,该镀膜装置包括夹持工装主体、夹持组件、侧面板、至少一个顶紧组件;所述夹持工装主体包括基板、至少两个限位块,所述基板上设置有容纳孔,所述限位块对称设置在所述容纳孔的四周;所述夹持组件滑动设置在所述限位块内;所述侧面板设置在所述限位块的两侧,与所述限位块固定连接;所述顶紧组件贯穿所述限位块,与所述夹持组件的端面抵接。本发明提供的镀膜装置设置了侧面板,夹持组件采用聚四氟乙烯材料,结构强度高,夹持应力小,不会对光学元件造成损伤,并且方便快捷、不易松动、掉落,可适用于需要全口径镀膜的中小尺寸的光学元件。

    一种元件激光损伤测量方法及装置

    公开(公告)号:CN106289727B

    公开(公告)日:2019-03-15

    申请号:CN201610599309.6

    申请日:2016-07-27

    Abstract: 本发明提供一种元件激光损伤测量方法及装置。测量时,对每一个预设测试点采用基本相同的能量和能量密度的激光脉冲进行逐次多发次辐照,并实时监测测试点的光学图像以判断该测试点是否产生功能性损伤,同时在线获取每一次辐照时的激光能量密度值;然后根据测试点的功能性损伤判定结果及在线激光能量密度值计算生成元件的功能性损伤测量曲线。这种元件激光损伤测量方法的测量结果准确度高、收敛速度快,多次测量所得测量曲线之间的偏差较小,还能有效降低不同测量人员之间及测量次序等人为因素对最终测量结果的影响。

    薄膜介质材料本征禁带宽度的确定方法、装置及设备

    公开(公告)号:CN116879183A

    公开(公告)日:2023-10-13

    申请号:CN202311010723.5

    申请日:2023-08-11

    Abstract: 本申请提供了一种薄膜介质材料本征禁带宽度的确定方法、装置、及设备,其中,该方法包括:对待测量单晶或多晶态薄膜介质材料进行椭偏测量,得到椭偏测量参数;基于预先构建的测量模型,生成椭偏模拟参数;根据椭偏测量参数以及椭偏模拟参数迭代和拟合,生成光谱吸收色散曲线;基于光谱吸收色散曲线进行高斯函数分峰拟合处理,得到分峰拟合高斯函数参数和参考色散曲线;提取与薄膜介质材料特征吸收峰相对应的目标拟合高斯函数参数和目标参考色散曲线并进行归一化以及直线外插,确定薄膜介质材料的本征禁带宽度。通过对目标拟合高斯函数参数和目标参考色散曲线归一化和直线外插,确定待测量单晶或多晶态薄膜介质材料的本征禁带宽度。

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