一种基于HTM的远场光束质量β测量仪

    公开(公告)号:CN118857691A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411333334.0

    申请日:2024-09-24

    Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域,具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪,包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统;所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束,所述缩束器用于将光束转换光斑,所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上,所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息,所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理,并计算出待测光的远场β值,解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响,导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。

    基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统

    公开(公告)号:CN117330181B

    公开(公告)日:2024-02-27

    申请号:CN202311634205.0

    申请日:2023-12-01

    Abstract: 本发明提供了一种基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统,涉及激光光束质量检测技术领域,包括耦接在入射光源和光斑采集装置之间的光束质量检测通道,光束质量检测通道设有光学组件和通光孔选择模块,光学组件用于对入射光源的光束直径和光强进行调节以生成待测激光,通光孔选择模块具有多个通光孔,光斑采集装置用以采集待测激光通过任一通光孔后的入射光斑;部分通光孔设有超表面剪切板,超表面剪切板用于将待测激光分为两束同向传播的发散光束和汇聚光束,发散光束与汇聚光束重合处可产生干涉。本发明通过多种激光光束质量参数测量方法的集成,提高了对激光光束质量参数的检测能力,使激光光束质量检测更为便

    一种基于波长调谐超表面的多波段激光光束M2因子检测系统

    公开(公告)号:CN119595097A

    公开(公告)日:2025-03-11

    申请号:CN202411858131.3

    申请日:2024-12-17

    Abstract: 本发明涉及激光光束质量检测领域,具体为一种基于波长调谐超表面的多波段激光光束M2因子检测系统,包括控制计算模块、一维位移台、波长调谐超表面、探测模块,计算模块用于控制一维位移台的位移和处理探测模块采集的图像;探测模块置于一维位移台上,用于检测激光光束传播方向各采样点上的光斑大小;波长调谐超表面用于实现入射光的波长调谐,将探测模块不能响应的入射光波长转换为探测模块可以响应的入射光波长;本发明通过对入射光的波长调谐,拓展了探测器的响应波长范围,使可见光探测器对近红外、中红外的探测成为可能,拓展了普通特定波段光探测器的波长响应范围,降低了M2检测系统成本,使得对相应波段的激光光束质量检测更为简单高效。

    基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统

    公开(公告)号:CN117330181A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311634205.0

    申请日:2023-12-01

    Abstract: 本发明提供了一种基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统,涉及激光光束质量检测技术领域,包括耦接在入射光源和光斑采集装置之间的光束质量检测通道,光束质量检测通道设有光学组件和通光孔选择模块,光学组件用于对入射光源的光束直径和光强进行调节以生成待测激光,通光孔选择模块具有多个通光孔,光斑采集装置用以采集待测激光通过任一通光孔后的入射光斑;部分通光孔设有超表面剪切板,超表面剪切板用于将待测激光分为两束同向传播的发散光束和汇聚光束,发散光束与汇聚光束重合处可产生干涉。本发明通过多种激光光束质量参数测量方法的集成,提高了对激光光束质量参数的检测能力,使激光光束质量检测更为便捷高效。

    一种基于HTM的远场光束质量β测量仪

    公开(公告)号:CN118857691B

    公开(公告)日:2024-11-26

    申请号:CN202411333334.0

    申请日:2024-09-24

    Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域,具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪,包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统;所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束,所述缩束器用于将光束转换光斑,所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上,所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息,所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理,并计算出待测光的远场β值,解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响,导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。

    一种基于多波长窄带滤波超表面的波长选通移相干涉测量系统

    公开(公告)号:CN119309781A

    公开(公告)日:2025-01-14

    申请号:CN202411856118.4

    申请日:2024-12-17

    Abstract: 本发明提供了一种基于多波长窄带滤波超表面的波长选通移相干涉测量系统,涉及光学检测技术领域;包括入射光源、光学干涉系统、探测器、多波长窄带滤波超表面和计算机模块;所述入射光源用于同时提供若干种不同波长的测试激光光束;所述光学干涉系统用于使测试激光光束发生干涉;所述多波长窄带滤波超表面设置于所述探测器的靶面上,所述多波长窄带滤波超表面用于对若干个选定波长的光束进行选通,所述探测器用于采集不同波长光束光学干涉后的干涉图;所述探测器与所述计算机模块电连接,所述计算机模块用于对干涉图进行解算;本发明针对光学干涉测量系统提出了一种新的移相机制,提高了干涉测量系统的探测效率,简化了干涉测量系统,降低了成本。

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