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公开(公告)号:CN118857691A
公开(公告)日:2024-10-29
申请号:CN202411333334.0
申请日:2024-09-24
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域,具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪,包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统;所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束,所述缩束器用于将光束转换光斑,所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上,所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息,所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理,并计算出待测光的远场β值,解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响,导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
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公开(公告)号:CN117330181B
公开(公告)日:2024-02-27
申请号:CN202311634205.0
申请日:2023-12-01
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统,涉及激光光束质量检测技术领域,包括耦接在入射光源和光斑采集装置之间的光束质量检测通道,光束质量检测通道设有光学组件和通光孔选择模块,光学组件用于对入射光源的光束直径和光强进行调节以生成待测激光,通光孔选择模块具有多个通光孔,光斑采集装置用以采集待测激光通过任一通光孔后的入射光斑;部分通光孔设有超表面剪切板,超表面剪切板用于将待测激光分为两束同向传播的发散光束和汇聚光束,发散光束与汇聚光束重合处可产生干涉。本发明通过多种激光光束质量参数测量方法的集成,提高了对激光光束质量参数的检测能力,使激光光束质量检测更为便
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公开(公告)号:CN119595097A
公开(公告)日:2025-03-11
申请号:CN202411858131.3
申请日:2024-12-17
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明涉及激光光束质量检测领域,具体为一种基于波长调谐超表面的多波段激光光束M2因子检测系统,包括控制计算模块、一维位移台、波长调谐超表面、探测模块,计算模块用于控制一维位移台的位移和处理探测模块采集的图像;探测模块置于一维位移台上,用于检测激光光束传播方向各采样点上的光斑大小;波长调谐超表面用于实现入射光的波长调谐,将探测模块不能响应的入射光波长转换为探测模块可以响应的入射光波长;本发明通过对入射光的波长调谐,拓展了探测器的响应波长范围,使可见光探测器对近红外、中红外的探测成为可能,拓展了普通特定波段光探测器的波长响应范围,降低了M2检测系统成本,使得对相应波段的激光光束质量检测更为简单高效。
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公开(公告)号:CN118913641B
公开(公告)日:2025-01-28
申请号:CN202411399203.2
申请日:2024-10-09
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本申请提供了是涉及一种基于超表面的超高分辨率HTM波前探测模块及其标定方法和测试方法。所述基于超表面的超高分辨率HTM波前探测模块,包括激光器、三维位移台、准直器、超表面结构和相机,所述激光器位于所述三维位移台上,且所述激光器的出光口位于所述准直器的焦平面上,所述激光器发出的球面波经所述准直器准直后引入不同斜率的平面波前,经超表面结构进行强度调制后由相机记录灰度信息。本申请通过超表面对光强分布的调制并进行灰度比例与斜率关系的标定,实现了高分辨率和超大动态范围的波前探测技术,其结构简单、功能稳定,在高精度、大动态范围的波前测量领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号:CN117330181A
公开(公告)日:2024-01-02
申请号:CN202311634205.0
申请日:2023-12-01
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明提供了一种基于超表面的多通道多功能激光光束质量检测系统,涉及激光光束质量检测技术领域,包括耦接在入射光源和光斑采集装置之间的光束质量检测通道,光束质量检测通道设有光学组件和通光孔选择模块,光学组件用于对入射光源的光束直径和光强进行调节以生成待测激光,通光孔选择模块具有多个通光孔,光斑采集装置用以采集待测激光通过任一通光孔后的入射光斑;部分通光孔设有超表面剪切板,超表面剪切板用于将待测激光分为两束同向传播的发散光束和汇聚光束,发散光束与汇聚光束重合处可产生干涉。本发明通过多种激光光束质量参数测量方法的集成,提高了对激光光束质量参数的检测能力,使激光光束质量检测更为便捷高效。
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公开(公告)号:CN118857691B
公开(公告)日:2024-11-26
申请号:CN202411333334.0
申请日:2024-09-24
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本发明属于高能激光远场光束质量测量领域,具体涉及一种基于HTM的远场光束质量β测量仪,包括分光镜、缩束器、微透镜阵列、CCD相机和数据处理系统;所述分光镜用于从激光系统的主激光中取样光束,所述缩束器用于将光束转换光斑,所述微透镜阵列用于将光斑分割为若干个近平面波前的细光束并聚焦至CCD相机的靶面上,所述CCD相机用于采集细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息,所述数据处理系统用于对细光束的远场强度分布信息及远场质心位置信息进行数据处理,并计算出待测光的远场β值,解决了常规光束质量β仪无法区别波前误差及强度起伏对β影响,导致高能激光系统中β因子修正的可能性及有效性难以准确评估的问题。
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公开(公告)号:CN118913641A
公开(公告)日:2024-11-08
申请号:CN202411399203.2
申请日:2024-10-09
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本申请提供了是涉及一种基于超表面的超高分辨率HTM波前探测模块及其标定方法和测试方法。所述基于超表面的超高分辨率HTM波前探测模块,包括激光器、三维位移台、准直器、超表面结构和相机,所述激光器位于所述三维位移台上,且所述激光器的出光口位于所述准直器的焦平面上,所述激光器发出的球面波经所述准直器准直后引入不同斜率的平面波前,经超表面结构进行强度调制后由相机记录灰度信息。本申请通过超表面对光强分布的调制并进行灰度比例与斜率关系的标定,实现了高分辨率和超大动态范围的波前探测技术,其结构简单、功能稳定,在高精度、大动态范围的波前测量领域具有广泛的应用前景。
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公开(公告)号:CN119309781A
公开(公告)日:2025-01-14
申请号:CN202411856118.4
申请日:2024-12-17
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种基于多波长窄带滤波超表面的波长选通移相干涉测量系统,涉及光学检测技术领域;包括入射光源、光学干涉系统、探测器、多波长窄带滤波超表面和计算机模块;所述入射光源用于同时提供若干种不同波长的测试激光光束;所述光学干涉系统用于使测试激光光束发生干涉;所述多波长窄带滤波超表面设置于所述探测器的靶面上,所述多波长窄带滤波超表面用于对若干个选定波长的光束进行选通,所述探测器用于采集不同波长光束光学干涉后的干涉图;所述探测器与所述计算机模块电连接,所述计算机模块用于对干涉图进行解算;本发明针对光学干涉测量系统提出了一种新的移相机制,提高了干涉测量系统的探测效率,简化了干涉测量系统,降低了成本。
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公开(公告)号:CN221425808U
公开(公告)日:2024-07-26
申请号:CN202323140467.X
申请日:2023-11-21
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
Abstract: 本实用新型公开了一种适用于大口径范围的多功能光束质量参数测量装置,包括缩束器模块、控制单元、功率测量模块、波前测量模块、近场分布测量模块、偏振度测量模块、远场Beta及M2测量模块和外壳;各个模块和控制单元均设置在外壳中,所述外壳上设置有入射部,所述缩束器模块的输入端与入射部位置相匹配,所述缩束器模块的输出端通过反射结构直接或间接与功率测量模块、波前测量模块、近场分布测量模块、偏振度测量模块、远场Beta及M2测量模块连接;本方案集合了多个测量模块,能够通过各类测量信息全面客观评价激光光束质量。
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