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公开(公告)号：CN107121600B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201710421591.3
申请日：2017-06-07
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置，包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆，所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆，所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩，所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心，所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头；本发明设计巧妙，结构简单易于实现，使用方便且制作和维护费用较低，具有突出的实质性特点和显著进步，在天线测量与电磁波领域适合大规模推广应用。
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公开(公告)号：CN107121600A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710421591.3
申请日：2017-06-07
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01R29/10
CPC classification number: G01R29/10
Abstract: 本发明公开了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置，包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆，所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆，所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩，所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心，所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头；本发明设计巧妙，结构简单易于实现，使用方便且制作和维护费用较低，具有突出的实质性特点和显著进步，在天线测量与电磁波领域适合大规模推广应用。
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公开(公告)号：CN206863131U
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201720652440.4
申请日：2017-06-07
Applicant: 中国工程物理研究院应用电子学研究所
IPC: G01R29/10
Abstract: 本实用新型公开了一种测试天线辐射场均匀性的自动测试装置，包括一个规则的几何框和与几何框分离的支撑杆，所述几何框上设置有若干个能沿着几何框的内框方向移动的定位杆，所述每一根定位杆指向几何框的中心且能伸缩，所述支撑杆的一端垂直于几何框截面并指向几何框中心，所述支撑杆的一端和定位杆上均设置有用于测试天线辐射场的探头；本实用新型设计巧妙，结构简单易于实现，使用方便且制作和维护费用较低，具有突出的实质性特点和显著进步，在天线测量与电磁波领域适合大规模推广应用。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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