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公开(公告)号：CN112730996B
公开(公告)日：2023-06-16
申请号：CN202011521327.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法，涉及通信测量技术领域，适用场景多，频率范围从100M到40GHz，操作便捷、成本低；该方法步骤包括：S1、将待测器件置于所述测试计量装置内，并将待测器件与接收功率测量仪器连接，用于测量接收功率；S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接，用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波；S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器，开始测量；S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度；该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，以及设于两者之间的空气腔；待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。
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公开(公告)号：CN117192229A
公开(公告)日：2023-12-08
申请号：CN202311055963.7
申请日：2023-08-21
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及射频测试技术领域，提供了一种电波暗室参数的确定方法，包括：S1、测量无屏蔽条件下干扰信号电平I的值；S2、确定预收信号电平P，及同频干扰对P的量值的不确定度分量；S3、基于信干比计算屏蔽室的屏蔽衰减AI，或基于底噪上升量计算屏蔽室的屏蔽衰减AN，或计算强电磁干扰的屏蔽衰减Ap，在实际工程中如果需要同时使用这3个屏蔽衰减要求数值或者其中2个屏蔽衰减要求数值，应该取其最大值。本发明还实现基于天线方向图测量不确定度来计算电波暗室静区反射电平要求。本发明创造性地提供了一种屏蔽室和天线暗室参数的确定方法，克服了传统仅凭经验确定有关参数的缺陷。
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公开(公告)号：CN112730996A
公开(公告)日：2021-04-30
申请号：CN202011521327.5
申请日：2020-12-21
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R29/10
Abstract: 本发明提供了一种天线和无源器件的测量方法，涉及通信测量技术领域，适用场景多，频率范围从100M到40GHz，操作便捷、成本低；该方法步骤包括：S1、将待测器件置于所述测试计量装置内，并将待测器件与接收功率测量仪器连接，用于测量接收功率；S2、将所述测试计量装置的馈入端与连续波馈入仪器连接，用于向所述测试计量装置内馈入所需的连续波；S3、启动接收功率测量仪器和连续波馈入仪器，开始测量；S4、根据馈入连续波的功率计算待测器件所处位置的电场强度；该变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，以及设于两者之间的空气腔；待测器件设于空气腔内。本发明提供的技术方案适用于多种通信测量试验的过程中。
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公开(公告)号：CN117147979A
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202311058453.5
申请日：2023-08-21
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及电波暗室技术领域，提供了一种电波暗室电磁场静区参数的测量及计算方法，包括S1、采用全向天线测量电磁场静区接收电平，形成空间路径‑接收电平的对应数列；S2、采用等间隔的第一空间分辨率，得到稀疏抽样波形，快速傅里叶变换形成空间谱计算序列的原始序列，作补零操作形成补零后序列，进行反快速傅里叶变换得到稀疏抽样恢复波形；S3、基于步骤S2中得到的所述稀疏抽样恢复波形对电磁场静区参数进行计算。本发明采用“稀疏抽样恢复波形”，大大减少了采样点位，但可以达到很高的波形保真度，可以检出“原始波形”对应的峰值，且得到的锥削和纹波曲线细节更丰富，提升了测试效率，节约测试时间。
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公开(公告)号：CN112198382A
公开(公告)日：2021-01-08
申请号：CN202010989484.2
申请日：2020-09-18
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供了一种电子通信设备的测试方法和装置，涉及通信设备测试技术领域，既能够开展无线通信设备的OTA(空口辐射)方式测试，也能够进行电子通信设备的电磁兼容测试，功能多、占地面积小、覆盖频率宽且操作简便；该装置为渐变同轴结构；所述渐变同轴结构包括同轴设置的内导体和外导体，所述内导体设于所述外导体内部，且两者之间具有封闭的绝缘空间；所述内导体和所述外导体的横截面均具有渐变性质；渐变性质具体为：横截面沿一个方向逐渐变大、逐渐缩小或者先变大再缩小，变大或缩小的过程是线性的或者非线性的；该装置包括单锥结构和双锥结构两种形式。本发明提供的技术方案适用于电子通信设备OTA测试和电磁兼容测试的过程中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115189781B
公开(公告)日：2024-04-09
申请号：CN202210623459.1
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种仪器仪表占用带宽的校准系统及方法，属于仪器仪表技术领域，能够在实现仪器仪表占用带宽的校准的同时，实现占用带宽的量值溯源；该方法采用两路输出功率相同的连续波信号作为标准信号实现仪器仪表占用带宽的校准；包括：连接系统并设置参数；在第一占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其单独在第一信号发生器和第二信号发生器射频输出的连续波作用下的占用带宽；在第二占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其在两个信号发生器射频输出的连续波共同作用下的占用带宽；根据读取的三个占用带宽，计算出被校仪器仪表占用带宽的实测值。
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公开(公告)号：CN117458143A
公开(公告)日：2024-01-26
申请号：CN202310994669.6
申请日：2023-08-08
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种优化镜面单锥系统的脉冲电磁场的方法和系统，包括：根据馈电点、观察点所在位置点及所有转折点之间的传输时间来确定时间延迟；然后，根据馈电点与观察点所在位置点之间的距离、馈电点的馈电电流、观察点所在位置点与所有转折点之间的最短路径及该最短路径对应的转折电流获得电场最早杂散峰值幅度比；最后根据所述时间延迟和/或电场最早杂散峰值幅度比来优化所述脉冲电磁场。本发明分析并减轻了脉冲电磁场中杂散形成的拖尾现象，采用本发明的方法改善了该不利现象。
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公开(公告)号：CN115189781A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210623459.1
申请日：2022-06-02
Applicant: 中国信息通信研究院
Abstract: 本发明涉及一种仪器仪表占用带宽的校准系统及方法，属于仪器仪表技术领域，能够在实现仪器仪表占用带宽的校准的同时，实现占用带宽的量值溯源；该方法采用两路输出功率相同的连续波信号作为标准信号实现仪器仪表占用带宽的校准；包括：连接系统并设置参数；在第一占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其单独在第一信号发生器和第二信号发生器射频输出的连续波作用下的占用带宽；在第二占用带宽功率比下，从被校仪器仪表中读取其在两个信号发生器射频输出的连续波共同作用下的占用带宽；根据读取的三个占用带宽，计算出被校仪器仪表占用带宽的实测值。
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公开(公告)号：CN111999689A
公开(公告)日：2020-11-27
申请号：CN202010846421.1
申请日：2020-08-20
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供了一种电磁辐射分析仪计量评测的装置、方法和应用，包括调制信号发生单元，用于产生模拟调制信号或数字调制信号；电磁辐射分析仪作为计量评测对象；连续波场强传递标准装置用于在计量中传递连续波电磁辐射的量值；电磁场单元，同时具有电场和磁场的空间，用于馈入连续波信号和调制信号；功率测量单元，用于测量电磁场单元内，连续波信号和调制信号的馈电功率，获取电磁场功率通过密度读数值；计量评测单元，通过连续波信号的馈电功率和电磁场功率通过密度读数值，对调制信号进行分类，根据分类结果，对调制信号的电磁场功率通过密度读数值和电磁场功率通过密度标准值进行对照，实现电磁辐射分析仪的计量评测。
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公开(公告)号：CN111999689B
公开(公告)日：2023-03-21
申请号：CN202010846421.1
申请日：2020-08-20
Applicant: 中国信息通信研究院
IPC: G01R35/00
Abstract: 本发明提供了一种电磁辐射分析仪计量评测的装置、方法和应用，包括调制信号发生单元，用于产生模拟调制信号或数字调制信号；电磁辐射分析仪作为计量评测对象；连续波场强传递标准装置用于在计量中传递连续波电磁辐射的量值；电磁场单元，同时具有电场和磁场的空间，用于馈入连续波信号和调制信号；功率测量单元，用于测量电磁场单元内，连续波信号和调制信号的馈电功率，获取电磁场功率通过密度读数值；计量评测单元，通过连续波信号的馈电功率和电磁场功率通过密度读数值，对调制信号进行分类，根据分类结果，对调制信号的电磁场功率通过密度读数值和电磁场功率通过密度标准值进行对照，实现电磁辐射分析仪的计量评测。
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