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公开(公告)号：CN113009664B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202110256996.2
申请日：2021-03-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC分类号： G02B7/00
摘要： 本发明涉及一种用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法。该调整装置包括装调元件、第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉；第一螺钉组包括两个第一螺钉，第二螺钉组包括两个第二螺钉；装调元件为包括顶板、侧板和底板的一体结构；顶板上包括两个安装第一螺钉的第一螺孔；底板上包括两个安装第二螺钉的第二螺孔；两个第二螺孔与两个第一螺孔的位置上下一致；侧板上包括一个第三螺孔，第三螺孔用于安装第三螺钉；对光学元件进行调整时，光学元件置于装调元件内部，通过调节第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉与光学元件的紧固程度来调节光学元件的位置。本发明可以提高光学调整装置中调整光学元件的便捷性，降低元器件的损坏率。
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公开(公告)号：CN113686451B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202110777853.6
申请日：2021-07-09
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院 , 中国人民解放军32801部队
IPC分类号： G01J5/53 , G01J5/08 , G01J5/0802
摘要： 本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统，所述光谱发射率的测量方法包括：采用红外光源照射目标；获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度；获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度；通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度，获取多个温度下，所述目标的光谱发射率曲线；获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标，并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度；以及获取所述最佳温度时，所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法，能够较的精确获取目标的光谱发射率。
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公开(公告)号：CN113009664A
公开(公告)日：2021-06-22
申请号：CN202110256996.2
申请日：2021-03-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC分类号： G02B7/00
摘要： 本发明涉及一种用于调整光学元件的调整装置、光学元件及其调整方法。该调整装置包括装调元件、第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉；第一螺钉组包括两个第一螺钉，第二螺钉组包括两个第二螺钉；装调元件为包括顶板、侧板和底板的一体结构；顶板上包括两个安装第一螺钉的第一螺孔；底板上包括两个安装第二螺钉的第二螺孔；两个第二螺孔与两个第一螺孔的位置上下一致；侧板上包括一个第三螺孔，第三螺孔用于安装第三螺钉；对光学元件进行调整时，光学元件置于装调元件内部，通过调节第一螺钉组、第二螺钉组和第三螺钉与光学元件的紧固程度来调节光学元件的位置。本发明可以提高光学调整装置中调整光学元件的便捷性，降低元器件的损坏率。
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公开(公告)号：CN113074762B
公开(公告)日：2022-08-26
申请号：CN202110256315.2
申请日：2021-03-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明涉及一种探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法。该调整装置的上下调整架为包括横板和竖板的T型一体结构，横板上开设有固定探测器的螺孔，竖板上开设有腰型槽，竖板两侧均包括凸起，凸起上均开设有安装第一调整螺钉的螺孔；左右调整架为包括横板和两个竖板的一体结构，两个竖板位于横板的上方，且均开设有安装紧固螺钉的与上下调整架的竖板上的腰型槽位置一致的螺孔；横板上开设有腰型槽，且横板的横向两个侧壁上分别开设有安装第二调整螺钉的螺孔；前后调整架的板面上开设有腰型槽，纵向侧壁上开设有安装第三调整螺钉的螺孔。本发明可以实现探测器的调整，并增加探测器调整的便捷性。
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公开(公告)号：CN113074762A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110256315.2
申请日：2021-03-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明涉及一种探测器调整装置、带有调整装置的探测器及其调整方法。该调整装置的上下调整架为包括横板和竖板的T型一体结构，横板上开设有固定探测器的螺孔，竖板上开设有腰型槽，竖板两侧均包括凸起，凸起上均开设有安装第一调整螺钉的螺孔；左右调整架为包括横板和两个竖板的一体结构，两个竖板位于横板的上方，且均开设有安装紧固螺钉的与上下调整架的竖板上的腰型槽位置一致的螺孔；横板上开设有腰型槽，且横板的横向两个侧壁上分别开设有安装第二调整螺钉的螺孔；前后调整架的板面上开设有腰型槽，纵向侧壁上开设有安装第三调整螺钉的螺孔。本发明可以实现探测器的调整，并增加探测器调整的便捷性。
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公开(公告)号：CN113324663A
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN202110777845.1
申请日：2021-07-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明公开了一种外场目标发射率的测量方法及系统，其包括：设置参考目标和待测目标；获取所述参考目标的第一红外辐射温度，和所述待测目标的第二红外辐射温度；获取所述第一红外辐射温度对应的第一等效辐射亮度，和所述第二红外辐射温度对应的第二等效辐射亮度；获取所述待测目标的表面实际温度；根据所述表面实际温度，获取所述待测目标的黑体辐射亮度；获取观测设备响应波段范围内，所述黑体辐射亮度的等效黑体辐射亮度；以及根据所述第一等效辐射亮度、所述第二等效辐射亮度以及所述等效黑体辐射亮度，获取所述待测目标的等效发射率。本发明能够实现在室外环境下，精确获取目标的发射率。
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公开(公告)号：CN113324663B
公开(公告)日：2022-02-25
申请号：CN202110777845.1
申请日：2021-07-09
申请人： 中国人民解放军32801部队 , 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 本发明公开了一种外场目标发射率的测量方法及系统，其包括：设置参考目标和待测目标；获取所述参考目标的第一红外辐射温度，和所述待测目标的第二红外辐射温度；获取所述第一红外辐射温度对应的第一等效辐射亮度，和所述第二红外辐射温度对应的第二等效辐射亮度；获取所述待测目标的表面实际温度；根据所述表面实际温度，获取所述待测目标的黑体辐射亮度；获取观测设备响应波段范围内，所述黑体辐射亮度的等效黑体辐射亮度；以及根据所述第一等效辐射亮度、所述第二等效辐射亮度以及所述等效黑体辐射亮度，获取所述待测目标的等效发射率。本发明能够实现在室外环境下，精确获取目标的发射率。
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公开(公告)号：CN113686451A
公开(公告)日：2021-11-23
申请号：CN202110777853.6
申请日：2021-07-09
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院 , 中国人民解放军32801部队
摘要： 本发明提供一种光谱发射率的测量方法及系统，所述光谱发射率的测量方法包括：采用红外光源照射目标；获取所述目标的光谱辐射亮度和环境光谱辐射亮度；获取所述目标在多个温度下的黑体辐射亮度；通过所述光谱辐射亮度、所述环境光谱辐射亮度、以及多个所述黑体辐射亮度，获取多个温度下，所述目标的光谱发射率曲线；获取每个所述光谱发射率曲线的粗糙度指标，并将所述粗糙度指标最小时的对应的温度作为最佳温度；以及获取所述最佳温度时，所述目标的光谱发射率。本发明提供的光谱发射率的测量方法，能够较的精确获取目标的光谱发射率。
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公开(公告)号：CN114166775B
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202111462392.X
申请日：2021-12-02
申请人： 中国科学院合肥物质科学研究院 , 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院
IPC分类号： G01N21/3504 , G06F17/16 , G06N20/00
摘要： 一种密闭空间SF6气体泄漏的红外光谱多元校正检测方法及系统，属于密闭空间SF6气体泄漏检测技术领域，解决密闭空间场景SF6气体泄漏检测存在的数据处理算法复杂、响应时间长问题；引入电力典型场景下大气背景干扰红外光谱，经过多元回归校正训练，完成SF6红外光谱辐射校正与光谱特征提取，去除背景噪声干扰，提升信噪比，训练完成后采用基于变量区间的光谱波长对波长进行优选，得到SF6气体多元校正系数，将输入待检测SF6气体红外光谱进行波长优选，将变换后的待检测SF6气体红外光谱的向量与SF6气体多元校正系数向量相乘，输出SF6气体浓度的检测结果，减小了密闭空间SF6气体泄漏的红外光谱采集和数据处理的时间，降低了算法的复杂度、缩短了算法的响应时间。
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公开(公告)号：CN113723001A
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202111026731.X
申请日：2021-09-02
申请人： 国网安徽省电力有限公司电力科学研究院 , 国家电网有限公司 , 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要： 一种基于多维数据的高精度六氟化硫物料核算方法及系统属于电力系统六氟化硫气体回收再利用技术领域，解决当前六氟化硫气体流转生命周期的各环节数据杂乱、需要人工整理、无法精准掌控的问题，本发明的技术方案通过对六氟化硫流转环节多维数据进行数据挖掘，找出影响核算的关键环节数据，简化多维数据维度；梳理各环节六氟化硫气体量关系，建立六氟化硫物料核算模型，利用历史流转数据作为模型训练数据集，使用数据拟合寻优迭代优化算法计算气体损耗率；与现有的分布离散且错综复杂的各环节记录数据的人工整理相比，本发明的技术方案具备高效、精确的优点，填补了六氟化硫物料核算的技术空白。
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