一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法

    公开(公告)号:CN108387878A

    公开(公告)日:2018-08-10

    申请号:CN201810559240.3

    申请日:2018-06-01

    Abstract: 本发明提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法,涉及电子设备测试技术领域,通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断,梳理TR组件射频信号传输路径,并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载,最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连,完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案,提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率,提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性,有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

    一种多通道同步测频装置

    公开(公告)号:CN109030939A

    公开(公告)日:2018-12-18

    申请号:CN201810558806.0

    申请日:2018-06-01

    Abstract: 本发明提供了一种多通道同步测频装置,涉及电子装备测试技术领域,本发明的同步测频装置能够提高电子装备连续波频率测试的精度,同步测频装置通过信号接收单元接收被测信号,并在相位重合检测单元内设置可调延时模块,由相位重合检测单元根据被测信号、标频信号和延时后的被测信号、标频信号生成相位重合点脉冲,再由计数闸门模块生成同步闸门信号,控制被测信号计数模块和标频信号计数模块进行计数,频率计算模块根据两者的计数结果计算出被测信号的频率,经由总线接口输出。通过本发明的技术方案,有利于降低一个最小公倍数周期内出现多个相位重合点脉冲的可能性,提高了生成同步闸门信号的可靠性,进而提高了计算被测信号频率的准确性。

    一种多通道同步测频装置

    公开(公告)号:CN109030939B

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN201810558806.0

    申请日:2018-06-01

    Abstract: 本发明提供了一种多通道同步测频装置,涉及电子装备测试技术领域,本发明的同步测频装置能够提高电子装备连续波频率测试的精度,同步测频装置通过信号接收单元接收被测信号,并在相位重合检测单元内设置可调延时模块,由相位重合检测单元根据被测信号、标频信号和延时后的被测信号、标频信号生成相位重合点脉冲,再由计数闸门模块生成同步闸门信号,控制被测信号计数模块和标频信号计数模块进行计数,频率计算模块根据两者的计数结果计算出被测信号的频率,经由总线接口输出。通过本发明的技术方案,有利于降低一个最小公倍数周期内出现多个相位重合点脉冲的可能性,提高了生成同步闸门信号的可靠性,进而提高了计算被测信号频率的准确性。

    一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法

    公开(公告)号:CN108387878B

    公开(公告)日:2020-04-21

    申请号:CN201810559240.3

    申请日:2018-06-01

    Abstract: 本发明提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法,涉及电子设备测试技术领域,通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断,梳理TR组件射频信号传输路径,并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载,最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连,完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案,提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率,提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性,有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

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