公开(公告)号：CN108387878B

公开(公告)日：2020-04-21

申请号：CN201810559240.3

申请日：2018-06-01

Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区

Inventor： 吕贵洲 ,  马俊涛 ,  刘利民 ,  韩春辉 ,  王立东 ,  夏明飞 ,  胡文华 ,  安婷

IPC: G01S7/40

Abstract: 本发明提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，涉及电子设备测试技术领域，通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断，梳理TR组件射频信号传输路径，并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载，最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连，完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。

公开(公告)号：CN108387878A

公开(公告)日：2018-08-10

申请号：CN201810559240.3

申请日：2018-06-01

Applicant: 中国人民解放军陆军工程大学石家庄校区

Inventor： 吕贵洲 ,  马俊涛 ,  刘利民 ,  韩春辉 ,  王立东 ,  夏明飞 ,  胡文华 ,  安婷

IPC: G01S7/40

Abstract: 本发明提供了一种相控阵雷达TR组件自动测试装置与方法，涉及电子设备测试技术领域，通过生成特定的射频信号控制射频开关的导通或关断，梳理TR组件射频信号传输路径，并在射频开关矩阵单元的内部设置功率衰减器和负载，最后由测试仪器通过测试仪器接口单元与相控阵雷达TR组件自动测试装置相连，完成对TR组件性能参数的测试。通过本发明的技术方案，提高了检测TR组件中各器件性能参数的检测速率，提高了测试TR组件中各器件性能指标的可靠性和准确性，有利于降低因输入功率过大而导致测试仪器损坏的可能性。